SDIO UVM驗(yàn)證IP技術(shù)的研究.pdf

1、隨著集成電路的高速發(fā)展，芯片復(fù)雜度的提升，驗(yàn)證在芯片設(shè)計(jì)中扮演越來越重要的角色。為了加速產(chǎn)品上市時(shí)間，需要提高驗(yàn)證的速度和效率，因此對(duì)驗(yàn)證的技術(shù)和方法提出了更高的要求。UVM驗(yàn)證方法學(xué)提供了層次清晰的業(yè)界統(tǒng)一的驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)，具有很多傳統(tǒng)驗(yàn)證方法達(dá)不到的優(yōu)點(diǎn)，尤其其可復(fù)用性可加速驗(yàn)證平臺(tái)的構(gòu)建。
　　SoC設(shè)計(jì)需要復(fù)用大量的IP核，驗(yàn)證IP可用于SoC的系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證，減少驗(yàn)證工程師的工作量，加快驗(yàn)證流程。SDIO接口廣泛應(yīng)用于消費(fèi)類電子，

2、為移動(dòng)設(shè)備提供高速、低功耗的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和應(yīng)用功能。
　　在研究UVM技術(shù)和分析SDIO接口標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議的基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)了符合標(biāo)準(zhǔn)SDIO協(xié)議的總線功能模型，并采用UVM驗(yàn)證方法學(xué)設(shè)計(jì)了SDIO驗(yàn)證IP中的各個(gè)組件及驗(yàn)證平臺(tái)，在其中構(gòu)建了用于統(tǒng)計(jì)和收集功能覆蓋率的覆蓋率模型。最后，在覆蓋率驅(qū)動(dòng)下，設(shè)計(jì)了隨機(jī)測試、基礎(chǔ)測試和錯(cuò)誤測試三種測試用例在驗(yàn)證平臺(tái)中對(duì)所設(shè)計(jì)的SDIO驗(yàn)證IP進(jìn)行仿真自測試，實(shí)現(xiàn)了100％的功能覆蓋率，測試結(jié)果表明所設(shè)計(jì)