溶液分散體系中納米顆粒形態(tài)與表面狀態(tài)的原位測(cè)量.pdf

1、本文主要使用核磁共振技術(shù)（NMR）和紫外可見(jiàn)光光譜技術(shù)（UV-Vis）研究了溶液分散體系中納米顆粒表面狀態(tài)和形態(tài)的原位測(cè)量。研究主要分為兩個(gè)部分：
　　本文研究的一方面是第一次嘗試采用低場(chǎng)核磁共振技術(shù)（LF-NMR）原位測(cè)量二氧化硅納米顆粒的濕比表面積，根據(jù)不同二氧化硅納米顆粒表面官能團(tuán)的類(lèi)別不同，確定二氧化硅納米顆粒表面束縛水分子的數(shù)量以及相應(yīng)表面官能團(tuán)的數(shù)量。本文用該方法以修飾改性的二氧化硅納米顆粒為例進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)分析對(duì)比，氨基

2、修飾的二氧化硅納米顆粒單位面積所含氨基個(gè)數(shù)為3.7個(gè)/nm2；羧基修飾的二氧化硅納米顆粒單位面積所含羧基個(gè)數(shù)為2.3個(gè)/nm2；羥基修飾的二氧化硅納米顆粒單位面積所含羥基個(gè)數(shù)為4個(gè)/nm2。結(jié)果與文獻(xiàn)相關(guān)報(bào)道一致，該技術(shù)證明可用于原位定性、定量分析納米顆粒表面的物理化學(xué)性質(zhì)。
　　本文研究的另一方面是使用紫外可見(jiàn)光譜技術(shù)（UV-Vis）對(duì)溶液中的納米顆粒吸光度進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)、記錄，經(jīng)計(jì)算得到相應(yīng)的濁度?；谌鹄⑸浣评碚摚≧GDA

3、），該濁度可用于計(jì)算納米顆粒粒徑分布，對(duì)異相材料包覆的顆粒來(lái)說(shuō)，可確定其包覆層厚度?；诠馍⑸湓恚摲椒ㄖ贿m用于在紫外及可見(jiàn)光譜范圍內(nèi)存在零吸收的物質(zhì)體系，在這種情況下，顆粒對(duì)光的散射作用是造成濁度（吸光度）的唯一原因。該技術(shù)成功實(shí)現(xiàn)了根據(jù)濁度確定納米顆粒粒徑及其包覆層厚度的研究，并且表現(xiàn)出可與動(dòng)態(tài)光散射測(cè)量結(jié)果相媲美的準(zhǔn)確性、靈敏性及方便性。以?xún)蓚€(gè)尺寸不同的聚苯乙烯微球包覆牛血清蛋白（BSA）為例進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)分析對(duì)比，濁度法計(jì)算測(cè)量的