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文檔簡介
1、光介電或光電容效應(yīng)是指在入射光的作用下,介電材料的介電常數(shù)發(fā)生變化的現(xiàn)象。真實材料中的光介電效應(yīng)可正可負,其中正光介電效應(yīng)具有重要的應(yīng)用價值。本文關(guān)注具有正光介電效應(yīng)的小極化子類型半導(dǎo)體材料,通過實驗研究該類典型材料的光介電性質(zhì),并在理論上闡述其光介電性質(zhì)的規(guī)律性。
第一章概述了光介電效應(yīng)的特點和實際應(yīng)用,介紹了光介電效應(yīng)的歷史和當前國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀,闡明本文的選題依據(jù)和研究內(nèi)容。
第二章詳細介紹本工作的實驗方法,包
2、括樣品制備和測量方法。
第三章主要研究了在不同強度的光照下,小極化子類型半導(dǎo)體材料金紅石二氧化鈦的介電性質(zhì)。實驗結(jié)果表明在50?400 Hz交流頻率范圍內(nèi),紫外光照可極大提高金紅石的介電常數(shù),同時降低介電損耗。
第四章分析了小極化子類型半導(dǎo)體材料的小極化子的動力學(xué)過程以及在光照下的介電常數(shù)增大的原因,推導(dǎo)出描述光照下小極化子動力學(xué)過程的數(shù)學(xué)公式。利用推導(dǎo)的數(shù)學(xué)公式,擬合了金紅石二氧化鈦的介電常數(shù)與光照時間的依賴關(guān)系,
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