基于0.18umbcd的25vldmos的設(shè)計(jì)_第1頁
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文檔簡介

1、DESIGNOF25V|LDMOSBASEDONBCDPROCESSAThesisSubmittedtoSoutheastUniversityFortheAcademicDegreeofMasterofEngineeringBYMeiHuabinSupervisedbyAssociateProfSunWei—fengandSeniorEngineerL。ZUenlor1UhUa乞一nSchoolofIntegratedCircuitsS

2、outheastUniversityOctober2011摘姜摘要最近這幾年,電子產(chǎn)品的發(fā)展日新月異,各種消費(fèi)產(chǎn)品層出不窮,促使功率元件的需求在大幅度增加。018umBCD(BipolarCMOSDMOS)I藝主要是為了數(shù)字電源、電機(jī)驅(qū)動(dòng)、音頻功放、LED驅(qū)動(dòng)、電池保護(hù)和高端電源管理等新興應(yīng)用而開發(fā)的,具有高集成度、低功耗、低開啟電阻、多樣工藝選項(xiàng)和可編程等優(yōu)點(diǎn),極大地方便客戶選擇,為客戶提供更多的價(jià)值。為了把功率元件與現(xiàn)在的平面工藝整

3、合到一起,需要把傳統(tǒng)的垂直式元件結(jié)構(gòu)改變成橫向式元件結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)。在這之中最重要的元件是橫向式雙擴(kuò)散金屬氧化物場效應(yīng)晶體管(LateralDoubleDiffusedMOSFET,LDMOS)。因此設(shè)計(jì)出性能優(yōu)越的高壓LDMOS器件對整個(gè)BCD工藝的開發(fā)就顯得至關(guān)重要。國內(nèi)目前成熟的高壓018umBCD工藝很少,很大程度上還依賴國外的技術(shù),所以自主研發(fā)高壓LDMOS有著重要的實(shí)際意義。本文基于華潤上華科技有限公司的018um25VBCD的

4、工藝項(xiàng)目,介紹了BCD的發(fā)展歷程,對傳統(tǒng)型LDMOS和運(yùn)用降低表面電場(ReducedSurfaceField,RESURF)技術(shù)的LDMOS的特性進(jìn)行了理論分析。論文運(yùn)用場板結(jié)構(gòu)來降低表面電場,并分析研究了HSNLDMOS、LSNLDMOS以及PLDMOS三種高壓器件結(jié)構(gòu)。通過優(yōu)化器件結(jié)構(gòu),折中關(guān)態(tài)擊穿電壓和導(dǎo)通電阻、關(guān)態(tài)和開態(tài)特性;并將LDMOS的擊穿位置限定在特定位置,提高器件的可靠性。為了保證器件工作在一個(gè)安全的區(qū)域,改進(jìn)了外延

5、層的厚度,調(diào)整了阱注入的先后順序和刻蝕菜單,運(yùn)用工藝仿真軟件Sentaurus進(jìn)行了模擬,并進(jìn)行了流片實(shí)驗(yàn)。經(jīng)過工藝線上多次流片實(shí)驗(yàn),最終成功做出滿足設(shè)計(jì)指標(biāo)的LDMOS器件,HSLDMOS閾值電壓為0828V,擊穿電壓為511V,特征導(dǎo)通電阻為27888mohmmm2;LSLDMOS閾值電壓為O828V,擊穿電壓為511v,特征導(dǎo)通電阻為28392mohmmm2;PLDMOS閾值電壓為0882V,擊穿電壓為446V,特征導(dǎo)通電阻為76

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