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1、西安電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文用于篩選的VDMOS器件抗輻照能力表征參量研究姓名:王黨會申請學(xué)位級別:碩士專業(yè):材料物理與化學(xué)指導(dǎo)教師:杜磊20070101AbstractAlong謝ththestudyingoflowfTequencynoiseofelectroniccomponents。peoplediscoveredthatthelowlequencynoiseissensitivityteflectthelatentdamage
2、sofelectroniccomponentsSopeopleCalluselowffequencynoiseofelectroniccomponentsasareliabilitywayAsawayofchameteringthereliabilitylowfrequencynoiseofelectroniccomponentshasexcellencesofcomulontoapplyhighsensitivitynondestru
3、ctiveandquicktomeasureandbecameabriefandeffectivetooltocharacterthereliabilityofelectroniccomponentsThispaperintroducetheionizationradiationeffectsofVDMOSFETthephysicalmechanismof1/fnoiseoriginbasedonthetheories,measurin
4、gtheelectricityparameters,noiseparametersandradiationexperiments,andgettingagreatlotofVDMOSFETdataFortheabilityofantiradiationofVDMOSFETthatusedI/fmethodhavestudiedfurtherandobtainedthestudyconclusionsasfollowing:1Therad
5、iationexperimentsofVDMOSFET稍thdifferentchannelandtypeincludingthentype,Ptype,militaryandcolnlllerceprodnctshavebeenmadeusingcobalt60asirradiationsourceTheresultsdemonstratedthat1hereareobviousrelationshipsbetweenl∥noiseo
6、fpreradiationandthechangesofthresholdvoltageandlzausconductanceafterradiationTheories咖dyhaveshownthatthemagnitudeof1//noisebecomeslargewiththedoseofradiationaddingwhichl竹edicatesthemoretappedchargesinducedbyradiationandi
7、tsdistributionisalsochanged2Comparedelectricityparameterswithnoiseparameterspostirradiationexperiments,edvancingtheoryanalysisshowsthatthresholdvoltagedriftand仃ansconduc劬cedegradationpostradiatioJxComparedthesensitivityb
8、e£wccntheelectricityparameterswithnoiseparametersprovedthatthecorrelationb咖eenelectricityparametersandnoiseparameters3。TheworkdoneaboveshowedthatpeoplecanuseI/fas祖analysistooltocharact日theabifityofVDMOSFETsantiradiationP
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