OLED的失效分析技術(shù)研究.pdf

1、本文對(duì)OLED的失效分析技術(shù)進(jìn)行了研究。有機(jī)電致發(fā)光器件((OLED)驅(qū)動(dòng)電壓低、發(fā)光亮度大、視角寬、響應(yīng)速度快、制作工藝簡(jiǎn)單,是新一代平板顯示技術(shù)中的一大亮點(diǎn):是21世紀(jì)首選的綠色照明光源之一。目前阻礙OLED走向?qū)嵱没褪袌?chǎng)化的關(guān)鍵問(wèn)題是其發(fā)光效率低、工作壽命短、性能穩(wěn)定性差。開(kāi)展OLED的失效分析工作,研究其失效機(jī)理,開(kāi)發(fā)新的分析方法,對(duì)提高器件可靠性具有十分重大的意義。發(fā)現(xiàn)OLED封裝氣密性問(wèn)題可能導(dǎo)致器件發(fā)光面積的減小。考察器

2、件在空氣、干燥空氣、潮濕氮?dú)庵械拿娣e退化規(guī)律,并通過(guò)顯微鏡和掃描電子顯微鏡(SEM)對(duì)失效器件的陰極及有機(jī)層的形貌進(jìn)行分析。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明水汽和氧氣都會(huì)導(dǎo)致OLED發(fā)光面積減小:水汽會(huì)導(dǎo)致陰極氣泡,有機(jī)層結(jié)晶,氧氣會(huì)氧化陰極及有機(jī)層。通過(guò)N&K多功能薄膜儀對(duì)OLED器件的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析,并對(duì)比了存放不同時(shí)間的樣品的反射率波譜。對(duì)反射率進(jìn)行計(jì)算擬合,可以得到OLED器件的結(jié)構(gòu)信息。對(duì)比了存放不同時(shí)間以及通電至失效的器件結(jié)構(gòu),發(fā)現(xiàn)對(duì)結(jié)構(gòu)為ITO

3、/NPB/Alq3/LiF/Al的器件,主要是Akq3和LiF層發(fā)生變化引起器件失效。也證明了N&K多功能薄膜分析儀是有效的OLED失效分析手段。OLED電極引線發(fā)生腐蝕是OLED失效的重要原因。用X射線衍射分析(XRD)、X射線光電子能譜分析(XPS)、掃描電鏡分析(SEM)和能譜分析(EDX)方法對(duì)鍍Cr的ITO電極引線樣品的腐蝕產(chǎn)物及形貌結(jié)構(gòu)進(jìn)行了分析,XRD和XPS結(jié)果表明鍍層Cr反應(yīng)生成Cr(OH)3和CrO3,SEM和EDX