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文檔簡介
1、隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展，數(shù)字電路的可測性設(shè)計和自動測試向量生成的研究日趨重要。 論文的主要工作是在深入研究數(shù)字電路測試的基本理論、可測性度量方法、自動測試向量生成的各種算法，特別是確定性測試生成算法——PODEM算法的基礎(chǔ)上，設(shè)計開發(fā)了一個運行于Windows操作系統(tǒng)下的用于研究測試向量的數(shù)字電路測試生成平臺。該平臺通過讀入電路的網(wǎng)表文件來分析電路結(jié)構(gòu)，計算電路各節(jié)點的可控制性和可觀測性，并進一步為電路生成確定性的測試向量，
2、同時給出了測試向量集的故障覆蓋率。 基于這個測試生成平臺，論文研究了目前廣泛應(yīng)用的偽隨機測試向量生成技術(shù)，介紹了線性反饋移位寄存器（LFSR）生成偽隨機測試向量的方法。在平臺上以ISCAS基準(zhǔn)電路作為實例電路，分析比較了偽隨機測試向量和確定性測試向量的測試效率。 論文進一步歸納總結(jié)了數(shù)字電路的掃描設(shè)計、內(nèi)建自測試、邊界掃描和IP核的可測性設(shè)計方法。將邊界掃描技術(shù)應(yīng)用于一個嵌入式微控制器的設(shè)計中，為其增加了符合IEEE11
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