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1、數(shù)字系統(tǒng)中可測(cè)性的測(cè)度是表征電路可測(cè)性難易程度的一個(gè)量,可測(cè)性是用可控制性和可觀察性來(lái)表征的。在電路設(shè)計(jì)過(guò)程中,就應(yīng)該對(duì)所設(shè)計(jì)的電路的可測(cè)性進(jìn)行分析,以估計(jì)電路的可測(cè)性,為了便于數(shù)字系統(tǒng)的測(cè)試,對(duì)可測(cè)性太差的電路必須對(duì)其進(jìn)行可測(cè)性改進(jìn)設(shè)計(jì),以提高其可測(cè)性。本文用面向?qū)ο蟪绦蛟O(shè)計(jì)語(yǔ)言構(gòu)造描述集成電路的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),論文詳細(xì)介紹了數(shù)字電路的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的描述方法,給出了可測(cè)性分析算法,并將有向圖的拓?fù)渑判蛞肟蓽y(cè)性分析程序設(shè)計(jì),提高了可測(cè)性分析的計(jì)
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