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文檔簡(jiǎn)介
1、南京航空航天大學(xué)碩士學(xué)位論文數(shù)字電路IDDT測(cè)試生成及故障診斷技術(shù)研究姓名:賈其燕申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專業(yè):測(cè)試計(jì)量技術(shù)及儀器指導(dǎo)教師:王友仁20090201數(shù)字電路IDDT測(cè)試生成及故障診斷技術(shù)研究iiABSTRACTAsthedevelopingofdesigningtechniqueofdigitalsystemtheimprovingofmanufacturingprocessofintegratedcircuitthekinds
2、offaultscausedbytransistdefecthavebecomeamaineffecttodigitalcircuitwhichbringsastrongchallengetothetraditionaltestingmethods.AsasupplementationitcanenhancethefaultcoveragemakethereliabilityofICshigherastheappearanceofthe
3、powercurrenttesting.Meoverthedynamicpowersupplycurrent(IDDT)isanovelmethodbywhichwecanobservetheswitchingactivitiesindigitalcircuits.IDDTtestingmethodsmakeitpossibletoincreasethefaultcoverage.FirstlythispaperusedPSpiceso
4、ftwaretosimulateverifytherelationbetweentheaverageIDDTofXgatethelogicaltransitionsthenumbersoftheoutloadwhichlaidthefoundationfestimatingIDDToftheentirecircuit.SecondlyfocusingonthehugeredundanttestvectsintheIDDTtestingt
5、hispaperresearchedanIDDTtestvectgenerationmethodbasedongeicalgithm(GA)utilizedseveralNeuralwksclassifierstoestimatethemethodperfmance.ByintroducingGAoptimizationalgithmintestthetestsetsscalecouldbereduceddrastically.Inth
6、eexampledemonstrationofvalidatingthemethodwhenthecompressrateofthetestvectswasreducedto10%wecouldobtain100%faultdiagnosisaccuracythenthevalidityofthemethodwasproved.Wealsoconductedsomeresearchonthetestgenerationfcomplexd
7、igitalfaultmodeltheexperimentresultsprovedthatthefaultcanbeactivatedeffectivelythefaultdiagnosiscouldachieveadiagnosisaccuracyof86.10%byemployingthismethod.Lastlytheintelligentdiagnosismethodbasedonradialbasisfunction(RB
8、F)wkfdigitalcircuitwasstudied.TheRBFwkhasabettergeneralizationabilityglobaloptimalsolution.TherefeRBFwkwasproposedheretoclassifydifferentdigitalfaulttypesinthismethodwhichcanclassifyrealizefaultlocationfastlyaccurately.T
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