微波介質(zhì)材料參數(shù)測試技術研究.pdf

1、近年來，微波技術正在以飛快的速度向前發(fā)展，各種微波天線和微波器件得到廣泛應用。與之相關的各種高性能微波介質(zhì)材料的研究與開發(fā)，已引起許多科技工作者的高度重視和興趣。為適應這一發(fā)展，迫切需要研究微波介質(zhì)材料參數(shù)測試技術。本論文研究微波介質(zhì)材料參數(shù)測試方法和技術，所作的工作具有理論意義和實用價值。 本文先以測量材料介電常數(shù)的波導多端口技術和四態(tài)四端口微波介質(zhì)材料參數(shù)測試系統(tǒng)理論為基礎，研究了低損耗介質(zhì)材料的部分填充介電參數(shù)測量方法，可

2、使低損耗微波介質(zhì)材料參數(shù)測試樣品的規(guī)格要求放寬。實驗測試結果表明了部分填充介電參數(shù)測量方法的可行性。 然后，研究了同軸探針對稱激勵矩形波導模式譜圖，證明了探針對稱激勵情況下矩形波導中不存在m為偶數(shù)的模式，這一結論可以用于拓展微波介質(zhì)材料參數(shù)測試系統(tǒng)的工作頻帶。采用實驗結果，驗證了理論分析的正確性。還采用矩形波導四態(tài)四端口微波介質(zhì)材料參數(shù)測試系統(tǒng)，對幾種微波介質(zhì)材料進行了測量，測試結果表明，在對稱激勵情況下，可成功地將3cm波導四