介質(zhì)材料電磁參數(shù)測試方法及相關應用研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本論文研究介質(zhì)材料電磁參數(shù)測試方法以及相關DRO設計,主要工作包括三個方面:介質(zhì)材料介電常數(shù)測試方法研究及軟件實現(xiàn)、薄膜材料電磁參數(shù)測試方法研究、C波段介質(zhì)振蕩器研制。
   在介質(zhì)材料介電常數(shù)測試方法研究及軟件實現(xiàn)中,首先,介紹了傳輸法,使用matlab編程軟件對傳輸法進行了驗證,對影響誤差的因素進行了分析,提出了測試準則。然后,對測試樣品所在的矩形波導截止頻率、諧振頻率、尺寸和材料介電常數(shù)、尺寸、位置與傳輸系數(shù)、反射系數(shù)之間

2、的關系進行研究,使用Newton-Gauss迭代法求解所涉及的一系列方程組,在VC++平臺上編寫出低損耗材料介電常數(shù)測試的軟件,從而實現(xiàn)了一個完整的測試工具。該測試工具可對低損耗材料的介電常數(shù)進行準確、迅速、寬頻帶檢測,具有較強實用性。
   在薄膜材料電磁參數(shù)測試方法研究中,首先,使用HFSS、IE3D研究發(fā)現(xiàn),薄膜材料的電磁參數(shù)與雙層基板微帶線測量裝置及共面波導測量裝置傳輸系數(shù)的相位變化有很好的關系。同時,共面波導測量裝置傳

3、輸系數(shù)的相位對薄膜材料的電磁參數(shù)更敏感。然后,提出了使用共面波導裝置測量薄膜材料介電常數(shù)或磁導率的方法,即通過比較仿真結果與實測結果,來確定薄膜材料的介電常數(shù)或磁導率。該測量裝置及方法避免了復雜的計算,可靠易操作。
   在C波段介質(zhì)振蕩器研制方面,采用CST軟件建立DR與微帶線的耦合模型,將仿真結果的S參數(shù)文件導入Microwave Office軟件進行仿真優(yōu)化。并使用AutoCAD軟件設計屏蔽盒以及Protel軟件制版。制版

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