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文檔簡(jiǎn)介
1、透明氧化物(TCO)薄膜因具有優(yōu)異的光電性能而被應(yīng)用在各種光電器件中,如平面液晶顯示器、太陽(yáng)能電池等。隨著TCO薄膜制備方法的不斷改進(jìn)、成熟以及聚合物基TCO薄膜的開(kāi)發(fā),TCO薄膜將具有更廣闊的應(yīng)用發(fā)展空間。
本文首先介紹了透明導(dǎo)電氧化物薄膜的發(fā)展歷程以及應(yīng)用領(lǐng)域,針對(duì)其面臨的主要問(wèn)題,引出新一代透明導(dǎo)電氧化物薄膜材料:摻鋁ZnO(ZAO),論述了ZAO薄膜的電學(xué)、光學(xué)性能;并對(duì)制備方法作了比較詳盡的介紹,包括激光脈沖沉積
2、法、噴霧熱解法、分子束外延法、金屬有機(jī)物化學(xué)氣相沉積法、溶膠凝膠法和磁控濺射法等。
本文采用自制的ZAO靶材在玻璃基片上用射頻(RF)磁控濺射的方法制備ZAO薄膜。實(shí)驗(yàn)部分從ZAO陶瓷靶材鋁摻雜量的探討開(kāi)始,選取ZnO、Al2O3為原料(Al摻雜量為2.5wt%),通過(guò)固相反應(yīng)制備ZAO陶瓷靶材。靶材SEM和XRD分析表明,靶材結(jié)晶良好,表面光滑致密。
對(duì)射頻濺射生長(zhǎng)出來(lái)的薄膜通過(guò)四探針測(cè)試儀測(cè)試薄膜方阻,X
3、RD分析晶體結(jié)構(gòu),分光光度計(jì)測(cè)量可見(jiàn)光透射率,AFM表征表面形貌和粗糙度,并對(duì)光致發(fā)光PL譜做了相應(yīng)的研究。探討了摻鋁以及射頻濺射工藝中濺射時(shí)間、濺射功率、氣體壓強(qiáng)、基片溫度等工藝參數(shù)對(duì)薄膜性能的影響。研究得出結(jié)論:
1.沉積的薄膜結(jié)構(gòu)均為(002)方向擇優(yōu)生長(zhǎng),且具有較高的透射率(80%),并且由于Al摻雜,薄膜紫外線截止邊向短波方向移動(dòng)。室溫光致發(fā)光PL譜出現(xiàn)藍(lán)紫雙峰。
2.適當(dāng)增加濺射時(shí)間,提高濺射功率
4、,可以降低薄膜方阻,但是可見(jiàn)光透射率有所下降。綜合考慮光學(xué)和電學(xué)性能,選取60min為參考時(shí)間,120W為功率上限。
3.實(shí)驗(yàn)過(guò)程中Ar氣流量保持同一水平,氣體壓強(qiáng)的變化改變了真空鍍膜室中氣體的相對(duì)濃度比,直接決定了入射離子電流的強(qiáng)度以及濺射粒子在遷移至基片過(guò)程中受到散射的強(qiáng)度。當(dāng)氣體壓強(qiáng)為0.55Pa時(shí),制備所得薄膜方阻最低,且可見(jiàn)光容易透過(guò),因此得出結(jié)論,0.55Pa為最佳工作壓強(qiáng)。
4.當(dāng)基片溫度小于1
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