2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題（含答案詳解+作文范文）_第1頁(yè)
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1、集成電路發(fā)展到今天的SoC時(shí)代，遇到最為棘手的問(wèn)題是SoC芯片的可測(cè)性問(wèn)題和測(cè)試良率問(wèn)題。而沒(méi)有高測(cè)試良率的產(chǎn)品是沒(méi)有競(jìng)爭(zhēng)力的。如何有效及時(shí)地開(kāi)發(fā)出良率最大化的測(cè)試程序逐漸成為測(cè)試業(yè)界最關(guān)心的問(wèn)題之一。本課題主要研究基于SoC測(cè)試程序的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)，其目的是開(kāi)發(fā)出一款具有高良率的測(cè)試程序用于高性能高集成的DVD刻錄功能SoC的測(cè)試。從硬、軟件兩方面，深入研究了提高測(cè)試良率的測(cè)試方法和調(diào)試技術(shù)。本文介紹了一般提高測(cè)試程序良率的方法，提出并著

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