基于S3C44B0的半導體分立器件測試系統(tǒng)的開發(fā).pdf

1、近年來，我國半導體分立器件封裝行業(yè)發(fā)展迅速，這對分立器件測試系統(tǒng)提出了很大的需求。目前國內(nèi)市場上主流的測試系統(tǒng)均為價格昂貴的進口設備，因此，開發(fā)擁有自主知識產(chǎn)權的測試系統(tǒng)具有重要意義。本文結合江蘇長電科技股份有限公司半導體分立器件測試設備研發(fā)項目，深入研究了嵌入式系統(tǒng)應用開發(fā)技術，開發(fā)了基于32位嵌入式微處理器$3C4480的半導體分立器件測試系統(tǒng)。 論文在分析了課題背景和測試系統(tǒng)功能的基礎上，給出了測試系統(tǒng)的總體結構與系統(tǒng)測試

2、主機的總線控制方案，設計了系統(tǒng)中測試主機的主控CPU板、AD/DA板和總線轉(zhuǎn)換板等硬件電路。結合系統(tǒng)功能要求及系統(tǒng)硬件，編寫了工藝參數(shù)數(shù)據(jù)的上位機編輯、串口傳輸、下位測試主機接收和存儲等軟件，完成了分立器件參數(shù)測試的功能函數(shù)封裝。最后在分析了測試系統(tǒng)分選機的功能基礎上，介紹了分選機功能的控制系統(tǒng)并給出了控制程序框圖。 該系統(tǒng)充分發(fā)揮了$3C4480嵌入式微處理器高性能優(yōu)勢，經(jīng)調(diào)試證明，能夠可靠地實現(xiàn)對半導體分立器件的參數(shù)測試和分