應(yīng)用基因芯片對皮膚惡性黑色素瘤差異表達基因的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文研究目的：用基因芯片技術(shù)篩選出惡性黑色素瘤組織與正常組織相比存在的差異表達基因，并從蛋白水平驗證其表達的改變，以期發(fā)現(xiàn)與惡性黑色素瘤發(fā)病相關(guān)的基因表達模式。 研究方法： (1)從4例惡性黑色素瘤組織及4例色素痣組織中提取RNA。用基因芯片技術(shù)檢測惡性黑色素瘤組織和色素痣組織的基因表達譜，并比較兩者的差異，找出惡性黑色素瘤的差異表達基因。 (2)用免疫組織化學(xué)方法進一步驗證主要差異基因在惡性黑色素瘤組織的表達。

2、對68例惡性黑色素瘤及40例色素痣組織中的VEGF表達水平進行了檢測。 研究結(jié)果： (1)在21073個基因中，共篩選出1596個差異基因。其中有733個基因表達上調(diào)，有863個基因表達下調(diào)；(2)VEGF在惡性黑色素瘤組織中的表達明顯高于色素痣(P＜0.01)，而且惡性黑色素瘤的臨床分期越高，其表達越高(P＜0.05，統(tǒng)計學(xué)分析呈顯著性差異，與基因芯片實驗結(jié)果相一致。 研究結(jié)論： (1)惡性黑色素瘤組織

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