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1、發(fā)展光電子集成技術(shù)需要硅基發(fā)光材料。晶體硅由于是間接帶隙材料,其帶間輻射復(fù)合效應(yīng)非常低,難于達(dá)到發(fā)光器件的要求,這使得制備高效、穩(wěn)定的Si基發(fā)光材料成為當(dāng)前研究的一個(gè)熱點(diǎn)。SiNxOy薄膜具有優(yōu)良的物理性能和光電性能,所以這種薄膜已經(jīng)成為研究硅基發(fā)光的侯選材料。 本文采用磁控濺射法,在恒定濺射功率和襯底溫度的前提下,通過(guò)改變?yōu)R射氣氛中Ar、N2與O2的通入量,在單晶硅襯底上生長(zhǎng)非晶SiNxOy薄膜,在N2保護(hù)下對(duì)樣品進(jìn)行高溫退火
2、。通過(guò)對(duì)退火后樣品的紅外吸收(FTIR)光譜和光致發(fā)光(PL)光譜的分析發(fā)現(xiàn):退火后樣品在500cm-1~1500 cm-1范圍內(nèi)存在一個(gè)較強(qiáng)的吸收譜帶,該吸收譜帶被認(rèn)為來(lái)自于Si-N鍵與Si-O-Si鍵的伸縮振動(dòng)吸收;樣品經(jīng)高溫退火后,在發(fā)光譜的可見(jiàn)光波段300nm到800nm范圍內(nèi)出現(xiàn)了一個(gè)較強(qiáng)的發(fā)光峰,并且隨著退火溫度的升高,發(fā)光峰的強(qiáng)度逐漸減弱。保持濺射氣氛中N2的通氣量不變,隨著O2通氣量的增加,所沉積的SiNxOy非晶薄膜成
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