基于雙口RAM計數(shù)器陣列的設(shè)計與實現(xiàn).pdf

1、惡劣的空間環(huán)境時刻威脅著航天器的安全,其中高能粒子由于具有極強的穿透力,能進入并積聚在衛(wèi)星內(nèi)部電介質(zhì)材料中,并在其附近產(chǎn)生高達數(shù)千伏的電位差,引起的放電脈沖損壞衛(wèi)星材料,破壞電子器件,導致衛(wèi)星報廢,是衛(wèi)星面臨的最大威脅,為此統(tǒng)計高能粒子的空間分布,對其數(shù)據(jù)進行分析,以便更好的預防高能粒子的危害,具有十分重要的實際應(yīng)用價值.論文主要針對高能粒子的計數(shù)統(tǒng)計設(shè)計了計數(shù)器陣列,詳細的論述了基于雙口RAM的計數(shù)器陣列的設(shè)計及其實現(xiàn)過程,主要以雙口

2、RAM為核心,結(jié)合指標要求設(shè)計查表模塊、時序模塊和計數(shù)模塊,配合雙口RAM共同實現(xiàn)計數(shù)統(tǒng)計,可以探測1024個通道粒子,每個通道的計數(shù)統(tǒng)計最大范圍為16777216,計數(shù)頻率為5MHz.同時由于計數(shù)器陣列主要用于空間,針對于空間單粒子事件,該文也加以描述,通過對通用的解決辦法--硬件冗余和漢明碼編碼的分析,結(jié)合具體的計數(shù)器陣列設(shè)計,給出了基于硬件冗余的方案圖.該計數(shù)器陣列主要針對于高能能粒子探測研制,但是對于其他需要大規(guī)模計數(shù)的測量領(lǐng)域