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文檔簡介
1、隨著集成電路復(fù)雜程度的提高，其可靠性問題日益突出。老煉試驗是一種剔除電路早期失效，提高電路可靠性的有效手段。老煉試驗分為靜態(tài)老煉、動態(tài)老煉和老煉中測試，其中動態(tài)老煉能夠?qū)崿F(xiàn)電路內(nèi)部節(jié)點的有效翻轉(zhuǎn)，是一種有效、可行的試驗方法。老煉試驗主要通過對集成電路施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力，并施加有效老煉向量，加速具有潛在缺陷電路失效的發(fā)生，以達到提高可靠性的目的。合理的施加電、熱應(yīng)力和老煉向量才能獲得老煉試驗的最佳效果。
大規(guī)模集成電路老煉試
2、驗中，電路本身的功耗對試驗的影響已經(jīng)不能忽略，成為影響試驗的重要因素。而不同廠家生產(chǎn)的同款電路，只有在老煉時覆蓋率和芯片溫度相同的基礎(chǔ)上，才能獲得相同的老煉效果。
本文以在系統(tǒng)可編程邏輯器件為例，通過實驗對國產(chǎn)JSM1048和Lattice公司的ispLSI1048C-50LG/883進行了老煉篩選技術(shù)的研究，并在研究在系統(tǒng)可編程邏輯器件封裝熱阻的基礎(chǔ)上，根據(jù)相同工藝、材料和封裝結(jié)構(gòu)具有相同熱阻θJC，提出一種方便、有效的
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