專用動態(tài)測試系統(tǒng)控制軟核的設計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路的高速發(fā)展,IP軟核由于其復用性的特點為系統(tǒng)設計提供了一種高效、低成本的設計流程,在各個領域得到了廣泛的應用。然而面向動態(tài)測試系統(tǒng)的控制軟核非常稀少,針對這一現(xiàn)象提出了面向動態(tài)測試系統(tǒng)的常用控制軟核的設計。
  文章先對動態(tài)測試系統(tǒng)的特點和測試過程進行分析,畫出了典型測試系統(tǒng)的結構框圖,根據系統(tǒng)的框圖劃分出測試系統(tǒng)常用的功能模塊,即AD控制、觸發(fā)和負延時控制、存儲控制、通信控制等模塊。針對以上功能在ISE環(huán)境下設計典型

2、測試系統(tǒng)中所常用的AD控制軟核、觸發(fā)比較與負延時控制軟核、SDRAM存儲控制軟核、USB通信控制軟核、串口通信控制軟核,并對其進行了功能仿真,驗證其準確性。各個軟核具有靈活的可編程設置能力,能夠根據不同的測試要求來改變其相應的參數(shù),對其進行簡單的修改、連接即可快速的完成系統(tǒng)的設計,具有較好的移植性和通用性。
  設計了相應的軟核模塊后,以一個具有無線功能的沖擊波測試系統(tǒng)為例,說明了設計的軟核在測試系統(tǒng)中的應用。在搭建好硬件平臺后,

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