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1、本文采用符合正電子湮沒(méi)壽命譜和Doppler展寬譜儀研究了不同施主摻雜和燒結(jié)溫度對(duì)BaTiO,基PTC材料的微觀缺陷及電性能的研究,采用SEM和XRD對(duì)PTC陶瓷材料的微觀組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行了研究。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:
(1)當(dāng)樣品中摻雜Y2O3的量在0.26mol%左右時(shí),并在1360℃下燒結(jié)1h,其電阻率最低,升阻比最高。
(2)實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),試樣的PTC效應(yīng)與燒結(jié)溫度和時(shí)間有關(guān)。試樣在1350℃保溫1h的PTC效應(yīng)較1
2、360℃保溫1h時(shí)明顯;試樣在1350℃保溫1h的PTC效應(yīng)較0.5h時(shí)明顯。
(3)在BaTiO3基PTC材料中摻入SiO2對(duì)基體的主晶相幾乎沒(méi)有變化,但XRD的結(jié)果表明,該樣品衍射峰的強(qiáng)度約是未摻入SiO2樣品的2倍。SiO2作為燒結(jié)助劑可以抑制晶粒的長(zhǎng)大,使晶粒細(xì)而均勻,降低樣品的電阻率。
(4)正電子湮沒(méi)壽命譜測(cè)量結(jié)果表明,對(duì)摻入Nb2O5的樣品,其正電子平均壽命τ隨著摻入Nb2O5含量的增加而呈現(xiàn)先
3、降低后升高再降低的變化。
(5)摻雜Nb2O5樣品的正電子湮沒(méi)輻射Doppler展寬實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:隨著Nb2O5含量的增加,商譜的譜峰先逐漸升高,后逐漸降低。當(dāng)施主Nb2O5量x≤0.2mol%時(shí)電子補(bǔ)償起主要作用;當(dāng)施主Nb2O5量0.2mol%≤x≤0.3mol%時(shí)空穴補(bǔ)償起主要作用。
(6)樣品中的微觀缺陷與時(shí)效溫度和時(shí)間緊密相關(guān)。符合正電子湮沒(méi)輻射Doppler展寬實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:當(dāng)時(shí)效溫度為1200℃
4、時(shí)間為2h的條件下,樣品商譜的譜峰最高;在爐冷條件下,樣品商譜譜峰最低。因?yàn)榍罢咝纬闪舜罅康匿^空位,鋇空位引起的高阻層φ2起主要作用;后者表面層勢(shì)壘φ1和φ2共同起作用。
(7)含CaCO3的PTC樣品,其晶粒比較均勻。隨著PTC樣品中CaCO3量的增加,電阻率ρ25降低,αT和ρmax/ρmin的值增大。
(8)在PTC樣品中同時(shí)摻入Y2O3和Nb2O5,當(dāng)Y2O3含量在0.11mol%~0.13mol%范
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