模擬IC直流參數(shù)測(cè)試硬件技術(shù)研究與實(shí)現(xiàn).pdf

1、集成電路產(chǎn)業(yè)經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的飛速發(fā)展，其工藝和性價(jià)比都得到了極大的提高，越來越得到市場(chǎng)的認(rèn)可和用戶的青睞。為了保證集成電路的高品質(zhì)，集成電路測(cè)試技術(shù)顯得極為重要。由于集成電路工藝進(jìn)步和設(shè)計(jì)方法深化，如何保證集成電路測(cè)試技術(shù)跟上集成電路發(fā)展速度成為了不可忽視的重大問題。本文主要從模擬集成電路直流測(cè)試的角度，深入研究了直流參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)方法及直流參數(shù)的測(cè)試方法。
　　論文首先從集成電路測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀入手，詳細(xì)分析了研究集成電路

2、測(cè)試技術(shù)的重要性。緊接著，本文從模擬IC直流參數(shù)測(cè)試儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)入手，對(duì)系統(tǒng)中設(shè)計(jì)的各個(gè)子模塊進(jìn)行了介紹，并針對(duì)系統(tǒng)中涉及到的關(guān)鍵硬件技術(shù)進(jìn)行了深入的研究。然后結(jié)合實(shí)際項(xiàng)目，通過對(duì)集成電路測(cè)試技術(shù)的消化吸收，提出了一種高精度多通道模擬測(cè)試板的實(shí)現(xiàn)方法，并從硬件、邏輯和驅(qū)動(dòng)等方面展開研究，并最終實(shí)現(xiàn)了該部分的設(shè)計(jì)。對(duì)于系統(tǒng)中存在的誤差，本文也進(jìn)行了分析，并對(duì)誤差進(jìn)行了校準(zhǔn)，使得校準(zhǔn)后的測(cè)試儀完全滿足設(shè)計(jì)要求。最后，利用該測(cè)試儀完成了對(duì)通用