基于BICS的抗多位翻轉(zhuǎn)CAM設(shè)計(jì).pdf_第1頁(yè)
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1、隨著工藝尺寸和電源電壓的減小、存儲(chǔ)器中多位翻轉(zhuǎn)(MBUs)發(fā)生的幾率越來(lái)越大，成為影響存儲(chǔ)器可靠性的重要因素。內(nèi)容可尋址存儲(chǔ)器(CAM)，是一種特殊的存儲(chǔ)器，除具有普通存儲(chǔ)器的讀寫(xiě)功能外，還能在一個(gè)周期內(nèi)搜索整個(gè)存儲(chǔ)器，并給出搜索數(shù)據(jù)的地址，常用于cache、路由查找表等搜索密集型領(lǐng)域。CAM采用SRAM作為存儲(chǔ)單元，并且存在大的地反射噪聲，使得CAM比SRAM更易受到軟錯(cuò)誤的影響，因此研究CAM的抗多位翻轉(zhuǎn)加固技術(shù)具有重要意義。

2、>　　由于CAM結(jié)構(gòu)的特殊性，不適合直接采用ECC方法對(duì)其進(jìn)行加固。本文采用電流探測(cè)思想，提出一種CAM抗多位翻轉(zhuǎn)加固方法，此方法采用內(nèi)建電流探測(cè)器（BICS）進(jìn)行錯(cuò)誤的檢測(cè)和列定位，采用多位奇偶校驗(yàn)碼完成錯(cuò)誤行定位，并將糾錯(cuò)電路和讀寫(xiě)控制電路結(jié)合完成糾錯(cuò)操作。
　　本文首先設(shè)計(jì)了64x64bits的常規(guī)CAM，然后分別設(shè)計(jì)了BICS電路、多位奇偶校驗(yàn)碼的編碼解碼電路及糾錯(cuò)電路，最后根據(jù)提出的加固方法將各子電路結(jié)合起來(lái)，完成抗多位

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