2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、表面粗糙度是描述表面微觀形貌最常用的參數(shù)之一,是表面質(zhì)量的直接反映,它在很大程度上影響和決定著零部件的使用性能,這種影響作用在機械、電子、生物醫(yī)學(xué)和光學(xué)等諸多領(lǐng)域都有重要體現(xiàn)。近幾十年來表面粗糙度測量問題一直是學(xué)術(shù)界重要的研究課題之一,隨著產(chǎn)業(yè)發(fā)展的推動和新技術(shù)的引入,各領(lǐng)域內(nèi)發(fā)展出許多新的測量方法。本文對各類典型的表面粗糙度測量方法進行了綜述分析,針對目前內(nèi)表面粗糙度測量技術(shù)的研究現(xiàn)狀和反射式強度調(diào)制型光纖傳感器(Reflective

2、 Intensity Modulation Fiber Optical Sensor, RIM-FOS)測量表面粗糙度存在的主要問題,以Φ5mm、Φ8mm和Φ10mm的孔為研究對象,提出了一種基于新結(jié)構(gòu)的RIM型光纖內(nèi)表面粗糙度傳感器的測量方法,能夠?qū)崿F(xiàn)較小尺寸的孔內(nèi)表面粗糙度的非破壞性測量。
  本文對RIM-FOS的工作原理進行了深入的理論研究,推導(dǎo)了一定假設(shè)條件下單光纖對的光強調(diào)制函數(shù),從理論上分析了RIM-FOS強度調(diào)制特

3、性曲線的主要影響參數(shù),并對強度調(diào)制特性曲線的主要特性參數(shù)進行了解釋,指出了表面粗糙度測量應(yīng)用對應(yīng)的目標(biāo)特性。根據(jù)RIM-FOS強度調(diào)制特性的計算機仿真分析結(jié)論,確定了RIM型光纖表面粗糙度傳感器設(shè)計的基本參考原則,設(shè)計了一種“1入12出”的雙層同軸結(jié)構(gòu)的光纖表面粗糙度傳感器(傳感器I)。利用微反射棱鏡對傳感器I的傳感頭進行結(jié)構(gòu)改進,研制出一種RIM型光纖內(nèi)表面粗糙度傳感器(傳感器II)。
  在RIM-FOS強度調(diào)制特性的建模研究

4、中,光纖出射光強的分布假設(shè)若與實際情況不符,會直接影響模型的正確性和準(zhǔn)確性。本文推導(dǎo)了光纖出射光強符合高斯分布假設(shè)下的單光纖對光強調(diào)制函數(shù),并在反射面為理想鏡面條件下建立了傳感器I的強度調(diào)制模型。深入研究粗糙表面的散射特性,基于Beckmann的散射幾何模型,推導(dǎo)了粗糙表面的光強調(diào)制函數(shù)。立足本文設(shè)計的雙路輸出的光纖表面粗糙度傳感器,給出了RIM-FOS測量表面粗糙度的理論模型,可以實際指導(dǎo)表面粗糙度測量。最后針對孔內(nèi)側(cè)表面的測量問題,

5、討論了工作距離控制和傳感頭偏心等問題對測量結(jié)果的影響,為孔內(nèi)表面粗糙度的測量提供了技術(shù)指導(dǎo)。
  基于理論分析的結(jié)論,本文對傳感器I和傳感器II的強度調(diào)制特性進行了實驗研究,分析了兩個傳感器與表面粗糙度測量應(yīng)用相關(guān)的特性,驗證了光纖表面粗糙度傳感器設(shè)計原則的合理性。通過傳感器I和傳感器II強度調(diào)制特性曲線的對比分析,實驗研究了微反射棱鏡對傳感器應(yīng)用特性的影響,結(jié)果表明傳感器II在表面粗糙度測量方面有良好的應(yīng)用能力。通過大量的實驗,

6、重點研究了反射面的表面粗糙度大小、加工方式和表面形狀對傳感器II強度調(diào)制特性的影響。實驗結(jié)果表明,以傳感器雙路輸出之比定義的測量參數(shù)對表面粗糙度有很好的區(qū)分能力,并通過分析確定了表面粗糙度測量時工作距離的取值范圍;而反射面的加工方式和表面形狀對傳感器的輸出有不同程度的影響,因此在對不同加工方式和不同表面曲率樣本進行測量時要區(qū)別對待,分別標(biāo)定測量曲線。
  應(yīng)用傳感器II,本文搭建了一套孔內(nèi)表面粗糙度的光纖傳感測量系統(tǒng),對不同直徑的

7、孔進行了非破壞性測量。測量結(jié)果與TimeSurf TR220型觸針式粗糙度儀的測量結(jié)果作了對比分析,論證了測量模型的正確性和測量方法的有效性、測量精度及測量范圍,分析了測量結(jié)果的主要影響因素,指出了今后研究的努力方向。
  本文研制的反射式強度調(diào)制型光纖內(nèi)表面粗糙度傳感器不僅體積小、操作簡便和經(jīng)濟性好,而且具有測量精度高和測量范圍大的特點。因此,本文提出的基于該傳感器的新測量方法將在較小零件內(nèi)表面粗糙度的非破壞性測量方面具有很好的

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