半導(dǎo)體二手設(shè)備市場(chǎng)研究與分析.pdf

1、隨著芯片速度與功能的不斷提高,驗(yàn)證測(cè)試變得更加必要。
　　 在目前的驗(yàn)證方法中,主要有軟件仿真,形式驗(yàn)證和FPGA驗(yàn)證。
　　 軟件仿真的方法主要是通過(guò)建立測(cè)試平臺(tái)存在很難完全不失真的仿真模塊以及速度慢等缺點(diǎn),系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證中瓶頸明顯。形式驗(yàn)證在目前來(lái)說(shuō)還存在著一些缺陷。只適合模塊級(jí)或中小系統(tǒng)級(jí)的驗(yàn)證,控制邏輯驗(yàn)證;形式驗(yàn)證假設(shè)參考設(shè)計(jì)正確,且不能驗(yàn)證時(shí)序。
　　 FPGA驗(yàn)證的優(yōu)點(diǎn)顯而易見(jiàn),在這個(gè)系統(tǒng)上芯片運(yùn)行的速

2、度和實(shí)際系統(tǒng)可比擬甚至一樣,這有助于發(fā)現(xiàn)一些出現(xiàn)概率很低的bug;其次,可以把它視為一個(gè)實(shí)際芯片構(gòu)成的系統(tǒng),在此基礎(chǔ)上利用各種開(kāi)發(fā)工具開(kāi)發(fā)出相應(yīng)的測(cè)試平臺(tái)和應(yīng)用平臺(tái),使得芯片代碼的驗(yàn)證與實(shí)際芯片的測(cè)試類似,并且用于代碼驗(yàn)證的所開(kāi)發(fā)的工具和測(cè)試向量完全可以用于流片回來(lái)后的產(chǎn)品測(cè)試,大大減小了工作量提高了工作效率;此外,在FPGA上的驗(yàn)證甚至具有比芯片測(cè)試更方便的排錯(cuò)功能,中間狀態(tài)只需定義一個(gè)I/O管腳將信號(hào)引出即可觀察。
　　 本

3、次搭建平臺(tái)的測(cè)試對(duì)象是一個(gè)復(fù)雜的大規(guī)模數(shù)字傳輸芯片,支持大量復(fù)雜的通訊協(xié)議,芯片內(nèi)含有至少七個(gè)數(shù)據(jù)流回路以及兩百多個(gè)寄存器,且支持傳輸?shù)臄?shù)據(jù)格式和傳輸制式的多樣性都超過(guò)了市面上已有的FPGA平臺(tái)的標(biāo)準(zhǔn)。故針對(duì)芯片驗(yàn)證測(cè)試所需的功能適用性,為了更好的跟蹤芯片內(nèi)數(shù)據(jù)流和控制測(cè)試信號(hào)的發(fā)生和采集,選擇自行開(kāi)發(fā)基于FPGA黑盒原理的功能驗(yàn)證平臺(tái)來(lái)達(dá)到最佳適用和性價(jià)比要求。傳統(tǒng)的驗(yàn)證測(cè)試開(kāi)發(fā)流程采用串行方式,這種流程延緩了產(chǎn)品面市的速度。采用驗(yàn)證

4、測(cè)試和生產(chǎn)測(cè)試并發(fā)進(jìn)行的測(cè)試流程是目前比較通用的測(cè)試策略。本平臺(tái)采用這種并行進(jìn)行的方法使兩者相輔相成,既可以共享設(shè)計(jì)仿真方面的信息,又可以在投片之前完全調(diào)試好測(cè)試向量和相關(guān)設(shè)置,繼而順利啟動(dòng)驗(yàn)證測(cè)試,這樣大大提高了測(cè)試進(jìn)度。測(cè)試平臺(tái)不應(yīng)該是一個(gè)單一的模塊,而是應(yīng)當(dāng)帶底層可重用功能模塊的構(gòu)造。在整體開(kāi)發(fā)過(guò)程中,驗(yàn)證測(cè)試和生產(chǎn)測(cè)試兩者并行進(jìn)行,用來(lái)滿足各自不同的測(cè)試需要。
　　 本平臺(tái)分為軟件平臺(tái)和硬件平臺(tái),硬件平臺(tái)包括FPGA仿真

5、系統(tǒng)、芯片demo系統(tǒng)、高速數(shù)據(jù)采集回放系統(tǒng)、嵌入式控制系統(tǒng)和PC機(jī)。軟件平臺(tái)包括數(shù)據(jù)采集回放軟件、內(nèi)嵌TCL腳本解釋器的自動(dòng)測(cè)試軟件、數(shù)據(jù)編輯系統(tǒng)軟件用于測(cè)試用的激勵(lì)信號(hào)產(chǎn)生。軟件平臺(tái)和硬件平臺(tái)中含有大量的可重用結(jié)構(gòu)。
　　 據(jù)此開(kāi)發(fā)的驗(yàn)證系統(tǒng)測(cè)試可以應(yīng)用于不同的芯片驗(yàn)證,目前在公司的各個(gè)項(xiàng)目中,特別是transceiver系列和HDLIU系列等通訊傳輸類產(chǎn)品中得到了應(yīng)用,這套系統(tǒng)特點(diǎn)是快速和通用,驗(yàn)證人員只需根據(jù)不同產(chǎn)品的驗(yàn)

6、證說(shuō)明寫(xiě)出相應(yīng)的驗(yàn)證腳本即可,在驗(yàn)證都是自動(dòng)快速執(zhí)行,不需人為干預(yù),大大提高效率,所開(kāi)發(fā)的驗(yàn)證腳本同時(shí)可用于芯片流片后的測(cè)試,還可以大大縮短芯片的測(cè)試時(shí)間。在筆者所驗(yàn)證的這個(gè)芯片代碼中,查查出了數(shù)十處嚴(yán)重的錯(cuò)誤,而這些錯(cuò)誤都是在前面的兩個(gè)階段驗(yàn)證完成以后發(fā)現(xiàn)的,如果這些嚴(yán)重錯(cuò)誤帶入芯片中將造成嚴(yán)重后果,不但芯片無(wú)法正常工作,排錯(cuò)也將十分困難。而在芯片回來(lái)后,功能驗(yàn)證得到快速執(zhí)行,快速轉(zhuǎn)入對(duì)performance的測(cè)試工作,節(jié)省了原有留片