動(dòng)態(tài)擴(kuò)展相容性掃描樹.pdf

1、全掃描測(cè)試是最有效和流行的可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)之一。全掃描測(cè)試技術(shù)將時(shí)序電路的測(cè)試產(chǎn)生問題轉(zhuǎn)化為組合電路的測(cè)試產(chǎn)生問題,降低了測(cè)試生成的復(fù)雜度,并提高了故障覆蓋率。但是,測(cè)試應(yīng)用時(shí)間、測(cè)試數(shù)據(jù)量和測(cè)試功耗都大大增加。全掃描測(cè)試技術(shù)的測(cè)試應(yīng)用時(shí)間依賴于掃描鏈的長(zhǎng)度。壓縮掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)依靠引入掃描鏈并行模式減少了大量測(cè)試應(yīng)用時(shí)間,考慮到外部掃描端口與內(nèi)部掃描鏈之間的關(guān)聯(lián)性制約,如何在輸入端橋接外部掃描輸入與內(nèi)部多條并聯(lián)掃描鏈?zhǔn)且粋€(gè)較為復(fù)雜的問題且不

2、得不折中考慮其它因素。對(duì)此,基于掃描單元相容性構(gòu)造的掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)應(yīng)運(yùn)而生,一種是測(cè)試向量在不同相容類的掃描單元之間以擴(kuò)散方式傳遞,如掃描樹技術(shù)；另一種是測(cè)試向量在同一相容類的掃描單元之間以數(shù)據(jù)拷貝的方式傳遞,如DCScan結(jié)構(gòu)。它們都極大地降低了測(cè)試應(yīng)用時(shí)間與測(cè)試功耗。本文基于掃描樹結(jié)構(gòu)和DCScan結(jié)構(gòu)展開研究。
　　 針對(duì)掃描樹測(cè)試結(jié)構(gòu)中樹形擴(kuò)散掃描方式存在的三個(gè)問題:冗余功耗較大,輸出端口太多,測(cè)試響應(yīng)壓縮容易產(chǎn)生別名,本

3、文提出了一種低硬件開銷的動(dòng)態(tài)掃描樹結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)通過掃描鏈阻塞和輸出路徑的動(dòng)態(tài)重組,解決了上述問題,并兼容多掃描鏈壓縮器。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明了該結(jié)構(gòu)的性能,對(duì)于ISCAS’89標(biāo)準(zhǔn)電路,對(duì)比原擴(kuò)展相容性掃描樹結(jié)構(gòu),在測(cè)試響應(yīng)的數(shù)據(jù)量最多平均減少97.19％時(shí),測(cè)試功耗平均降低36.4％；在測(cè)試響應(yīng)的數(shù)據(jù)量平均減少88.77％時(shí),測(cè)試功耗平均降低69.6％。
　　 針對(duì)基于掃描單元相容性構(gòu)造的掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)中測(cè)試響應(yīng)同步輸出引發(fā)的問題,本文