基于擴展相容性掃描樹的響應壓縮器設計.pdf

1、隨著集成電路的集成度、規(guī)模以及復雜度呈現(xiàn)出幾何級數(shù)的增長，測試所需的費用越來越昂貴。這些都給電路測試帶來了極大難度，同時也出現(xiàn)了很多新的問題。一些傳統(tǒng)的測試方法已經(jīng)不能滿足人們對系統(tǒng)可靠性的要求。要解決這些問題，迫切需要采用一些新的測試理論和技術。全掃描測試是一種最有效和流行的可測性設計技術。全掃描測試技術將時序電路的測試產(chǎn)生問題轉化為組合電路的測試產(chǎn)生問題，降低了測試生成的復雜度，并提高了故障覆蓋率。但是，測試應用時間、測試數(shù)據(jù)量和測

2、試功耗都大大增加。 全掃描測試技術的測試應用時間依賴于最長的掃描鏈長度。掃描樹技術被提出用來減少測試激勵數(shù)據(jù)量和測試應用時間。該測試結構降低了最長的掃描鏈長度（即掃描樹的層數(shù)或高度），從而降低了測試激勵數(shù)據(jù)量和測試應用時間。擴展相容性掃描樹技術通過添加邏輯非和異或來擴展掃描單元的相容性，進一步降低了最長掃描鏈的長度，顯著地減少了測試應用時間、測試激勵數(shù)據(jù)量以及測試功耗，但掃描輸出個數(shù)增加，測試響應數(shù)據(jù)量變大。 針對擴展相

3、容性掃描樹技術中的缺點，本研究在異或網(wǎng)絡的基礎上，設計了一種適用于擴展相容性掃描樹結構的測試響應壓縮器。該壓縮器僅由異或網(wǎng)絡構成。本設計利用了擴展相容性的優(yōu)點以及被測電路的內(nèi)部信息，在不降低故障覆蓋率的情況下，有效地解決了錯誤位擴散帶來的問題及用較低的硬件代價減少了掃描輸出的個數(shù)。 全掃描測試技術中，在進行掃描移位時過多的跳變導致功耗比電路正常運行狀態(tài)下高很多。因此，阻塞部分掃描鏈時鐘的技術被提出來以降低測試功耗。此技術中，在掃