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文檔簡介
1、本文首先介紹了數(shù)字電路測試的相關(guān)知識和可測性設(shè)計中的內(nèi)建自測試的原理,用C語言編程實現(xiàn)了對數(shù)字電路進行模擬的并行故障模擬方法.在電路測試時利用這個程序來計算故障覆蓋率.其次,研究了目前應用最為廣泛的基于掃描的多種子內(nèi)建自測試技術(shù).其中使用很少種子的重新播種內(nèi)建自測試方法使一個種子對應多個確定性測試矢量,減少了所需存儲的種子的數(shù)目,進而降低了測試的硬件開銷;探索了選擇多個單元的重新播種測試方法,它主要是針對使用很少種子的重新播種內(nèi)建自測試
2、方法中只是利用了線性反饋移位寄存器(LFSR)的一個單元作為輸出向掃描鏈移入測試矢量,但沒有充分利用到LFSR其他單元編碼種子的能力這一不足,而進行的,文中詳細介紹了線性反饋移位寄存器長度、連接多項式及相應的單元的選擇方法.上述兩種方法均用C語言程序?qū)崿F(xiàn),并對五個具體電路進行了模擬測試.對得到的測試結(jié)果進行比較,可以看出選擇多個單元的重新播種測試方法在測試的硬件開銷方面及測試序列的長度方面有一定的優(yōu)越性.最后,研究了測試生成器的復用問題
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