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文檔簡介
1、隨著半導(dǎo)體集成工藝和制造工藝的不斷發(fā)展,集成電路的規(guī)模越來越大,片上網(wǎng)絡(luò)(Network-on-Chip, NoC)作為下一代大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的主流技術(shù),其發(fā)展受到了平面結(jié)構(gòu)的限制。而3D IC技術(shù)日漸完善,一些學(xué)者提出了NoC與3D IC技術(shù)融合而成的3D NoC技術(shù),其已成為解決二維架構(gòu)片上網(wǎng)絡(luò)瓶頸問題的可靠方案。但是3D NoC的復(fù)雜度、集成度以及IP核數(shù)量的增加,使得IP核的測試面臨著效率低、測試調(diào)度復(fù)雜、成本高等問題。測試規(guī)
2、劃是提高測試效率的有效方法,如何開拓新思路研究新方法,提出一種高效的測試規(guī)劃方案對3D NoC技術(shù)的發(fā)展具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。
本文在研究3D NoC基本結(jié)構(gòu)和與IP核測試相關(guān)技術(shù)的基礎(chǔ)上,基于重用NoC作為測試存取機(jī)制(Test Access Mechanism,TAM)的并行測試方法,針對IP核測試數(shù)據(jù)傳輸帶寬與TAM帶寬不匹配的問題,提出帶分復(fù)用方法對單一TAM實(shí)施動態(tài)細(xì)分,使得多個(gè)核的測試數(shù)據(jù)可以共享同一物理TAM并行傳
3、輸。并結(jié)合3D NoC結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)二維編碼建立帶寬分配和測試順序模型,采用多種群遺傳模擬退火算法(Multi-population Genetic-Simulated Annealing Algorithm,MPGSAA),在總功耗、層功耗雙重約束以及帶寬約束下對 IP核的帶寬分配和測試調(diào)度順序進(jìn)行雙重優(yōu)化,提高并行測試效率以獲得最短測試時(shí)間。算法中針對測試調(diào)度順序優(yōu)化設(shè)計(jì)移位互換雜交策略,并運(yùn)用精英配對方法加快種群尋優(yōu)速度,設(shè)計(jì)求精操作進(jìn)
4、一步優(yōu)化測試時(shí)間,通過比較、淘汰、替換機(jī)制加強(qiáng)種群間交流,增加種群多樣性,避免算法陷入局部最優(yōu)。
最后以IT’C02標(biāo)準(zhǔn)電路集作為實(shí)驗(yàn)對象實(shí)施仿真測試。實(shí)驗(yàn)主要針對采用帶分復(fù)用方法與單一TAM只傳輸單個(gè)IP核的測試數(shù)據(jù)的方法對相同測試電路實(shí)施測試規(guī)劃的結(jié)果進(jìn)行比較分析;研究了選取不同數(shù)量的TAM對測試時(shí)間的影響,以及不同測試功耗限制的選擇對測試結(jié)果的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明采用帶分復(fù)用方法對3D NoC實(shí)施測試規(guī)劃能有效地減小系統(tǒng)測
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