基于多像滅點的非量測型相機檢校方法的研究.pdf

1、隨著科技的發(fā)展，非量測數(shù)碼相機以其低廉的價格、靈巧、便攜等特點在實際中得到了廣泛的應用，但它沒有準確地測定內(nèi)方位元素的設施或提供這方面的數(shù)據(jù)，透鏡組的排列沒有進行嚴格的校正，往往有畸變差等光學缺陷存在，不能直接進行像位的解析計算，因此在進行攝影測量時為了保證攝影設備能提供較高的量測精度，需要對設備各個參數(shù)指標進行精確的檢校。相機參數(shù)是影響攝影測量成果精度的重要因素之一，相機參數(shù)檢校質(zhì)量的高低直接關系著能否滿足測量精度的要求。
　　

2、 對普通數(shù)碼相機的檢校方法有很多種，一般在進行檢校時需要在所攝物體四周具備有足夠數(shù)量的控制點，但在缺乏控制點的情況下，或者在特高測繪精度的要求下，則需要根據(jù)實際情況選擇檢校方法，以滿足具體測量的任務要求。本文主要是依據(jù)滅點的幾大屬性，找出滅點與內(nèi)外方位元素之間的幾何關系，根據(jù)滅點與觀測直線之間的關系進行模型推導，通過滅點直接建立待檢校參數(shù)與直線信息之間的關系模型，然后通過實驗獲取數(shù)據(jù)，編制程序?qū)δＰ瓦M行平差解算，確定內(nèi)方位元素、光學畸