基于DDR3的最壞眼圖技術(shù)研究.pdf

1、近年來集成電路設(shè)計和工藝技術(shù)的不斷進步帶動了整個計算機、電子和通訊產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展，超級計算機的組成部分刀片式服務(wù)器系統(tǒng)中普遍使用高帶寬DDR存儲器，DDR SDRAM（Double Data Rate SDRAM，雙倍數(shù)據(jù)率同步動態(tài)隨機存取存儲器）是一種高速CMOS動態(tài)隨機訪問的內(nèi)存，由三星公司在1996年最早提出，至今仍廣泛應(yīng)用。
　　數(shù)據(jù)率是DDR3存儲器的重要指標，數(shù)據(jù)率的不同會影響系統(tǒng)的信號完整性，如何在相同的布局空間內(nèi)設(shè)

2、計出更快的數(shù)據(jù)率是業(yè)界研究的熱點。本文對信號完整性的仿真技術(shù)做了一定的研究，通過對前人的工作進行改進，給出了一種更好的仿真方法，使得仿真結(jié)果更為準確。
　　本文通過對業(yè)內(nèi)的三種主流時域仿真技術(shù):最大峰值失真法(PDA)，雙邊沿法(DER)及多邊沿法(MER)進行分析，在雙邊沿法及多邊沿法“求向量”和“解向量”方法的基礎(chǔ)上做出了改進:在“求向量”上，優(yōu)化后的方法考慮了多情況（如多相位以及內(nèi)外眼皮獨立求解）提高了精度;在“解向量”上，

3、采用了類似于MER的格子法捕獲最壞碼形，得出了克服最大峰值法只能處理邊沿對稱系統(tǒng)和雙邊沿法可能無法得到最壞碼型及無法處理非線性驅(qū)動系統(tǒng)問題的優(yōu)化時域仿真法，并給出了確定其階數(shù)的方法。
　　本文的主要工作有:
　　1.對最大峰值法的不對稱性問題進行系統(tǒng)論述以及仿真驗證，例證了雙邊沿法可能不能得到最壞碼形的結(jié)論以及內(nèi)在原因，并簡單的提出了改進方向;
　　2.采用MATLAB和HSPICE的聯(lián)合仿真并繪制出眼圖，對最大峰值法