儲氫材料中MgH2對噻吩加氫反應影響的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文主要在氫氣氛圍下采用機械反應球磨法制備了鎂基儲氫材料70Mg30C,利用TEM和SEM對材料進行了顆粒粒度和形貌表征,利用XRD對材料進行了物相分析,利用DSC來確定儲氫材料的放氫溫度,利用自制的排水法放氫裝置來表征儲氫材料的儲氫密度和放氫曲線。在固定床管式反應器上,以噻吩為模型化合物,將鎂基儲氫材料用于噻吩加氫反應,分別研究了反應溫度和反應時間對儲氫材料用于噻吩加氫反應產(chǎn)物、活性和硫含量的影響,并探討了儲氫材料中的Mg和微晶碳在噻

2、吩加氫反應中的作用,進一步來說明了儲氫材料中的活性組分MgH2在噻吩加氫反應中的至關(guān)重要作用。
  在鎂基儲氫材料用于噻吩加氫反應過程中,儲氫材料性受熱可釋放出高活性固相原子態(tài)氫,活性氫可以攻擊噻吩的C-S鍵,C-S鍵斷裂,生成C4烴,同時還發(fā)生了C4烴的裂解反應,生成更小分子的烯烴和烷烴。噻吩加氫反應過程中C-S鍵斷裂產(chǎn)生的硫自由基可以與活性氫結(jié)合生成H2S,從而實現(xiàn)了有機硫向無機硫的轉(zhuǎn)化。
  在噻吩加氫反應過程中,一定

3、要控制好反應溫度。反應溫度過低,儲氫材料將無法為噻吩加氫反應供氫,無C4烴生成和明顯的噻吩轉(zhuǎn)化率,噻吩不發(fā)生加氫反應;反應溫度過高,盡管有明顯的噻吩轉(zhuǎn)化率,但是卻無檢測到C4烴,這是C4烴在高溫下容易發(fā)生積碳反應所致。只有在特定溫度范圍內(nèi),儲氫材料釋放出的高活性氫才可以攻擊噻吩的C-S鍵,生成C4烴。
  反應時間也是噻吩加氫反應的一個重要影響參數(shù)。噻吩加氫反應產(chǎn)物和反應活性隨反應時間變化而變化。在反應前期,儲氫材料放氫速率快,反

4、應管中活性MgH2在其表面解離出高活性氫量增多,促進噻吩加氫反應;在反應后期,儲氫材料放氫速率慢,反應管中活性MgH2在其表面解離出高活性氫量減少,不利于噻吩加氫反應。
  儲氫材料中的硫主要來自于H2S與Mg結(jié)合生成的MgS。硫含量隨反應溫度升高而升高,進一步說明噻吩加氫反應程度隨反應溫度升高而加劇;硫含量隨反應時間延長而先增大后趨于穩(wěn)定,進一步說明反應前期儲氫材料具有供氫能力而反應后期因MgH2完全解離而無供氫能力。
 

5、 儲氫材料是一個不同組分混合體,含有Mg、微晶碳和MgH2。儲氫材料在500℃靜態(tài)放氫處理后,儲氫材料中的組分發(fā)生了變化,MgH2完全發(fā)生解離,MgH2轉(zhuǎn)變?yōu)镸g,儲氫材料無供氫能力,無法為噻吩加氫反應供氫,Mg與噻吩不發(fā)生加氫反應。微晶碳經(jīng)充氫球磨后,具有一定的儲氫能力,但儲氫密度低,在與噻吩反應過程中,球磨過程形成的微晶碳破鍵會與從微晶碳層間脫附出的氫氣發(fā)生反應生成小分子烴類,反應過程中無C4烴生成,微晶碳與噻吩不發(fā)生加氫反應。儲氫

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