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1、分類號(hào)TP306.2學(xué)號(hào)12060009UDC密級(jí)公開(kāi)工學(xué)碩士學(xué)位論文IP核測(cè)試測(cè)試訪問(wèn)訪問(wèn)和掃描掃描鏈低功耗測(cè)試低功耗測(cè)試方法方法研究研究與實(shí)現(xiàn)與實(shí)現(xiàn)碩士生姓名鄧秋嚴(yán)學(xué)科專業(yè)電子科學(xué)與技術(shù)研究方向集成電路可測(cè)性設(shè)計(jì)指導(dǎo)教師劉衡竹研究員國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)研究生院國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)研究生院二〇二〇一四年十年十一月ResearchImplementationofIPCeTestAccessLowPowerTestingMethodologyon
2、ScanChainsCidate:QiuyanDengAdvis:HengzhuLiuAdissertationSubmittedinpartialfulfillmentoftherequirementsfthedegreeofMasterofEngineeringinElectronicScienceTechnologyGraduateSchoolofNationalUniversityofDefenseTechnologyChang
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