基于線光源掃描的光學(xué)元件內(nèi)部疵病檢測.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、ICF激光驅(qū)動器中用到成千上萬各種口徑的光學(xué)元件,如果這些光學(xué)元件存在氣泡、雜質(zhì)等內(nèi)部疵病時,會嚴重影響光學(xué)系統(tǒng)的性能,甚至?xí)p壞光學(xué)元件,造成不可估量的損失。因此,研究一種能夠自動檢測光學(xué)元件內(nèi)部疵病的方法,具有重要的意義。
  本課題正是在這樣的背景下提出來的,在分析了傳統(tǒng)方法檢測效率低、檢測樣品口徑有限、易漏檢等不足之后,根據(jù)米氏散射理論,利用Matlab軟件進行了單粒子散射光強度分布的仿真,根據(jù)仿真結(jié)果提出了幾種內(nèi)部疵病檢

2、測的可能方案。在分析上述方案利弊的基礎(chǔ)上,提出了一種基于掃描的光學(xué)元件內(nèi)部疵病的檢測方法。在暗場環(huán)境下,利用線光源對待測玻璃側(cè)面進行照射,利用高分辨率CCD相機從待測玻璃的正面進行拍攝,經(jīng)過圖像拼接得到全口徑的疵病圖像,提出了精掃描的方法得到疵病精確的z坐標,最后獲取待測玻璃內(nèi)部疵病的空間分布、粒度統(tǒng)計等定量分析結(jié)果。
  為了驗證本方法的可靠性,將實驗結(jié)果與顯微鏡測量的結(jié)果進行對比,結(jié)果表明本文提出的基于掃描的光學(xué)元件內(nèi)部疵病檢

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