基于B樣條曲面擬合和Snake模型的Mura缺陷檢測(cè)方法研究.pdf

1、Mura缺陷是廣泛存在于TFT-LCD上最難檢測(cè)的一類顯示缺陷,具有低對(duì)比度、無(wú)清晰邊緣、亮度不均勻等特性。當(dāng)前,國(guó)內(nèi)外主要TFT-LCD廠商仍采取人工視覺(jué)檢測(cè)的方式檢測(cè)該類缺陷,無(wú)法滿足平板顯示產(chǎn)業(yè)高度自動(dòng)化、標(biāo)準(zhǔn)化的要求,迫切需要快速準(zhǔn)確的Mura缺陷機(jī)器檢測(cè)方法。
　　基于當(dāng)前Mura缺陷機(jī)器檢測(cè)現(xiàn)狀,提出一種快速準(zhǔn)確的Mura缺陷自動(dòng)檢測(cè)方法。該檢測(cè)方法分為三大部分:圖像預(yù)處理、背景抑制和缺陷分割。在圖像預(yù)處理部分,針對(duì)T

2、FT-LCD區(qū)域外背景干擾、TFT-LCD區(qū)域發(fā)生傾斜和幾何形變等問(wèn)題,采用Hough變換求取傾斜角并使用旋轉(zhuǎn)公式矯正,通過(guò)Harris角點(diǎn)檢測(cè)提取區(qū)域角點(diǎn)并將其完整無(wú)損地提取出來(lái)。此后,通過(guò)Butterworth低通濾波器對(duì)感興趣區(qū)域進(jìn)行濾波。在背景抑制部分,針對(duì)圖像的整體亮度不均勻、背景復(fù)雜等問(wèn)題,在傳統(tǒng)最小二乘雙三次B樣條曲面擬合的基礎(chǔ)上,提出增添了光順項(xiàng)的改進(jìn)背景抑制方法,解決傳統(tǒng)B樣條曲面擬合由于擬合精度過(guò)高而導(dǎo)致的Mura缺

3、陷被削弱的問(wèn)題。為提高擬合速度,通過(guò)乘積型原理對(duì)雙三次B樣條曲面函數(shù)分步求解,并采用數(shù)據(jù)壓縮和分塊擬合的方法進(jìn)一步提高算法效率。在缺陷分割部分,提出改進(jìn)的Snake模型進(jìn)行缺陷分割。為了解決Mura缺陷的形狀和數(shù)量不定的分割難題,采用自適應(yīng)的初始曲線,并引入水平集函數(shù)以分割數(shù)目不定的Mura區(qū)域。為提升算法性能,根據(jù)零水平線二值曲線的長(zhǎng)度設(shè)置終止條件以減少迭代次數(shù),并采用AOS格式對(duì)Snake模型進(jìn)行求解,從而實(shí)現(xiàn)了Mura缺陷的準(zhǔn)確快