TFT-LCD Mura缺陷檢測(cè)研究.pdf

1、Mura缺陷是TFT-LCD中一類常見(jiàn)的視覺(jué)缺陷，表現(xiàn)為低對(duì)比度、非均勻亮度區(qū)域，邊緣模糊，通常大于一個(gè)像素，會(huì)給觀察者帶來(lái)視覺(jué)不適。同時(shí)Mura缺陷也是視覺(jué)缺陷中最為復(fù)雜和最難檢測(cè)的，目前行業(yè)內(nèi)通常采用經(jīng)過(guò)專業(yè)訓(xùn)練的檢測(cè)人員根據(jù)限度樣本用人眼比對(duì)的方法進(jìn)行檢測(cè)，不可避免地引入主觀認(rèn)定等因素，容易產(chǎn)生不可靠的判定結(jié)果，且效率較低。 近年來(lái)，研究人員開(kāi)始研究利用機(jī)器視覺(jué)來(lái)代替人眼檢測(cè)，但在檢測(cè)過(guò)程中如何高準(zhǔn)確率獲取Mura缺陷一直

2、是行業(yè)內(nèi)公認(rèn)的難題之一，為此，本文在分析研究TFT-LCD Mura缺陷特征和規(guī)律基礎(chǔ)上，提出了基于B樣條曲面擬合來(lái)獲得Mura缺陷信息的方法，并依據(jù)該方法設(shè)計(jì)和搭建了Mura缺陷獲取系統(tǒng)，完成了相應(yīng)的軟硬件設(shè)計(jì)，通過(guò)對(duì)大量真實(shí)Mura缺陷樣本的檢測(cè)驗(yàn)證了該方法和系統(tǒng)的有效性，能夠自動(dòng)高效準(zhǔn)確地獲取Mura缺陷。 本論文的研究成果為最終實(shí)現(xiàn)用機(jī)器代替人完成Mura缺陷的檢測(cè)提供了一種有價(jià)值并有效的方法和路徑，同時(shí)，還可為其他FP