基于嵌入式GPU的USB插頭表面缺陷檢測算法研發(fā).pdf

1、當(dāng)前的USB插頭表面缺陷檢測大多采用人工檢測手段，以剔除有缺陷的USB插頭。但人工檢測手段成本高，而且容易因為人眼疲勞導(dǎo)致漏檢、誤檢等情況。因此，本論文研究開發(fā)了一套基于嵌入式GPU的USB插頭表面缺陷檢測系統(tǒng)，能準(zhǔn)確檢測出USB插頭表面的點狀、斑狀以及面狀缺陷，具有較高的工程應(yīng)用價值。
　　本系統(tǒng)基于機器視覺，通過采集工業(yè)線上的USB插頭圖像，提取出USB插頭表面區(qū)域，并對USB插頭表面的缺陷進行顯著性提取，以突出較難檢測的斑狀

2、、面狀缺陷。USB插頭表面圖像容易因為鍍層問題導(dǎo)致光照不均等現(xiàn)象，不適合全局檢測缺陷。所以本系統(tǒng)選擇采用超像素分割算法，將USB插頭表面分為多個超像素區(qū)域，分別進行缺陷判斷，有效解決了光照不均帶來的影響。為提高算法性能，本論文還對算法進行了并行計算優(yōu)化。對每個算法模塊進行運行時間分析，利用嵌入式GPU實現(xiàn)基于CUDA的性能優(yōu)化。
　　經(jīng)過測試，本論文研發(fā)的檢測系統(tǒng)能很好地滿足USB插頭表面缺陷檢測的功能和性能需求，缺陷檢測算法耗時