2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、電子束熔融(electron beam melting,EBM)是一種3D打印技術(shù),其采用電子束作為加工熱源,使材料完全熔化后再冷卻凝固成型的三維實體零件制造方法。與以激光為能源的SLM技術(shù)對比,電子束熔融零件是在真空環(huán)境下完成,因而避免了零件在制作過程中受到污染;且該技術(shù)以電子束作為熱源,能量利用率較SLM高,使其加工速度增快。與CAD/CAM切削技術(shù)相比大大節(jié)約了制作成本及時間,并且可以加工各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)的零件。與鑄造技術(shù)相比避免了鑄

2、造過程中的繁瑣工序以及鑄造缺陷等。電子束熔融憑借其獨特的技術(shù)優(yōu)點將成為未來極具發(fā)展前景的一種金屬制造技術(shù)。本課題首先研究了EBM技術(shù)制作的純鈦冠的體外適合性,其次,對比了電子束熔融與鑄造法制作的鈦試件的粗糙度和拋光效果,并在臨床上選取了一些合適的患者,比較了EBM與鑄造法制作的純鈦單冠的口內(nèi)適合性,全面性地評價了EBM制作的純鈦冠的適合性,從而為EBM技術(shù)的臨床應(yīng)用提供依據(jù)。
  方法
  1.采用EBM(EBM A2)、S

3、LM系統(tǒng)(EOSING M280)、兩種切削系統(tǒng)(DMG與R+K)以及失蠟鑄造法分別制作純鈦單冠、三聯(lián)冠、六聯(lián)冠各5個;冠與基牙之間的間隙用硅橡膠輕體復(fù)制并用重體固定輕體薄膜后整體片切出1mm的薄片試件,將其放在體式顯微鏡下測量邊緣及內(nèi)部垂直間隙,采用SPSS17.0軟件對實驗數(shù)據(jù)進行單因素方差分析。
  2.分別采用電子束熔融和鑄造法制作純鈦試件各10個,采用三維形貌測量儀逐一測量試件的粗糙度,測量結(jié)果應(yīng)用SPSS17.0軟件進

4、行單因素方差分析。同時,比較常規(guī)研磨拋光后的效果。
  3.在臨床上選取10名合適患者,由同一醫(yī)師進行牙體預(yù)備,標準硅橡膠法取模,灌模后掃描,CAD軟件設(shè)計修復(fù)體,分別采用電子束熔融技術(shù)和精密鑄造法制作純鈦冠,經(jīng)拋光、清洗后在患者口內(nèi)試戴并制取間隙薄膜,將薄膜切片后在體視顯微鏡下觀察測量,測量結(jié)果采用SPSS17.0軟件進行兩獨立樣本t檢驗。
  結(jié)果
  1.五種方法制作的純鈦單冠、三聯(lián)冠、六聯(lián)冠的測量結(jié)果均顯示其合

5、面中央間隙最大,邊緣間隙最小。
  2.五組純鈦單冠的邊緣間隙有統(tǒng)計學(xué)差異(P<0.05),其中間隙最小的是切削組,其次是3D打印組,適合性最差的是鑄造組。EBM組與SLM組、DMG組與R+K組冠的邊緣適合性并無統(tǒng)計學(xué)差異(P>0.05);五組純鈦單冠的內(nèi)部整體適合性無統(tǒng)計學(xué)差異。
  3.五組純鈦三聯(lián)冠的邊緣間隙均有統(tǒng)計學(xué)差異(P<0.05),其中間隙最小的是切削組,其次是選擇性激光熔覆組,EBM組適合性最差。DMG組與R

6、+K組冠的邊緣間隙無統(tǒng)計學(xué)差異(P>0.05);SLM組、DMG組、R+K組、鑄造組內(nèi)部整體適合性無統(tǒng)計學(xué)差異,EBM組與SLM組、R+K組內(nèi)部整體適合性無統(tǒng)計學(xué)差異;EBM組內(nèi)部整體適合性較DMG組、鑄造組差。
  4.五組純鈦六聯(lián)冠的邊緣間隙有統(tǒng)計學(xué)差異(P<0.05),其中間隙最小的是切削組,其次是選擇性激光熔覆組,EBM組適合性最差。DMG組與R+K組冠的邊緣間隙無統(tǒng)計學(xué)差異(P>0.05),EBM、SLM、DMG、R+K

7、組內(nèi)部整體適合性無統(tǒng)計學(xué)差異;鑄造組較EBM、SLM、DMG、R+K組的內(nèi)部適合性好。
  5.EBM組、DMG組單冠與三聯(lián)冠、三聯(lián)冠與六聯(lián)冠、單冠與六聯(lián)冠均有統(tǒng)計學(xué)差異;SLM組、鑄造組三聯(lián)冠與六聯(lián)冠、單冠與六聯(lián)冠有統(tǒng)計學(xué)差異;R+K組單冠與三聯(lián)冠、六聯(lián)冠有統(tǒng)計學(xué)差異。
  6.粗糙度實驗的測量結(jié)果表明拋光前EBM組純鈦試件的表面粗糙度較鑄造組大;拋光后二者無差別。
  7.電子束熔融純鈦全冠適合性的臨床研究結(jié)果顯示

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