透鏡光學(xué)傳遞函數(shù)的測量.pdf

1、隨著光學(xué)器件的不斷發(fā)展，光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的評價越來越成為應(yīng)用光學(xué)領(lǐng)域中一個眾所矚目的問題。在比較和分析了多種評價方法的優(yōu)缺點后，人們最終得出光學(xué)傳遞函數(shù)法是一種評價光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量比較客觀、有效的方法。因而測量光學(xué)傳遞函數(shù)就有了比較實際的意義。
　　現(xiàn)行的光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀，主要是以掃描和對比的方法測量光學(xué)傳遞函數(shù)的調(diào)制傳遞函數(shù)部分，不可避免的丟失了相位的信息。為了測量完整的光學(xué)傳遞函數(shù)，需要用干涉的方法把相位轉(zhuǎn)化為光強固定下來，

2、由此本文提出了一種用Zernike多項式擬合干涉圖的方法來測定光學(xué)傳遞函數(shù)。
　　該方法的一大優(yōu)點是實驗設(shè)備簡單，實驗過程操作方便，僅需要以邁克爾遜干涉儀為基礎(chǔ)采集幾幅干涉條紋圖。在后續(xù)的圖像處理過程中，本文實現(xiàn)了圖像的降噪，修邊，相位解包等一系列處理，確立了完整的圖像處理機(jī)制。之后用Zernike多項式對相位圖進(jìn)行擬合，并通過令特定項為零消除參考面的影響，得到被測透鏡的光瞳函數(shù)。最后對光瞳函數(shù)做自相關(guān)運算得到被測透鏡的光學(xué)傳遞函