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1、本文結(jié)合WLE控制圖和VSS WLC控制圖的思想，提出了基于加權(quán)損失函數(shù)下的可變樣本容量的EWMA控制圖，我們稱之為VSS WLE控制圖．它也是一種在樣本容量可以變化的條件下能夠同時檢測過程均值和方差漂移的控制圖，在計(jì)算VSS WLE控制圖的平均運(yùn)行時間時，我們引入并簡單介紹了積分配置法，并用近似法近似計(jì)算積分，使得積分配置法在計(jì)算上更加可行，把這種方法用到計(jì)算平均運(yùn)行時間上大大節(jié)省了計(jì)算時間．同時我們對這種控制圖的優(yōu)良性做了研究，通過
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