2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、自從1996年第一次研制出GaN藍(lán)光激光器以來(lái),以GaN及其合金為基礎(chǔ)的量子阱、超晶格、應(yīng)變復(fù)合材料將半導(dǎo)體材料的發(fā)展帶到了一個(gè)全新的領(lǐng)域,在這類(lèi)材料的推動(dòng)下,量子阱激光器、高速二維電子器件和光電集成器件等得到了很好的發(fā)展。本論文在有效質(zhì)量近似理論下,運(yùn)用變分法分別計(jì)算了閃鋅礦結(jié)構(gòu)GaN/AIGaN量子阱中類(lèi)氫雜質(zhì)態(tài)的激光場(chǎng)的基態(tài)施主束縛能效應(yīng)和閃鋅礦結(jié)構(gòu)GaN/AIGaN量子阱中類(lèi)氫雜質(zhì)態(tài)的激光場(chǎng)和外加電場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)效應(yīng)的施主束縛能;另外

2、,還計(jì)算了半導(dǎo)體閃鋅礦結(jié)構(gòu)InGaN/GaN步階阱中類(lèi)氫雜質(zhì)態(tài)的電場(chǎng)和步階束縛能的競(jìng)爭(zhēng)效應(yīng)。
  首先,計(jì)算了閃鋅礦結(jié)構(gòu)GaN/AIGaN量子阱中類(lèi)氫雜質(zhì)態(tài)的激光場(chǎng)的基態(tài)施主束縛能效應(yīng)。結(jié)果表明束縛能取決于量子阱的結(jié)構(gòu)參數(shù)和鋁含量;本論文還研究了激光場(chǎng)和量子束縛對(duì)雜質(zhì)念的競(jìng)爭(zhēng)效應(yīng),這些性質(zhì)在本論文中分析了相關(guān)的物理原因。當(dāng)雜質(zhì)位于阱寬比較窄,鋁含量比較低的量子阱中時(shí),激光場(chǎng)對(duì)雜質(zhì)態(tài)束縛能的影響更顯著。當(dāng)雜質(zhì)位于閃鋅礦GaN/AIG

3、aN量子阱邊緣時(shí),鋁含量,阱寬和激光場(chǎng)強(qiáng)度的變化對(duì)束縛能的影響比較小。
  其次,計(jì)算了閃鋅礦GaN/AIGaN量子阱中類(lèi)氫雜質(zhì)態(tài)的激光場(chǎng)和外加電場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)效應(yīng)的束縛能。結(jié)果表明無(wú)論激光場(chǎng)存在與否,由于電場(chǎng)的存在,都可以使施主束縛能不再關(guān)于量子阱中心成對(duì)稱性分布。當(dāng)激光場(chǎng)強(qiáng)度比較弱時(shí),電場(chǎng)對(duì)施主束縛能的影響就比較強(qiáng);隨著激光場(chǎng)強(qiáng)度的增強(qiáng),電場(chǎng)對(duì)施主束縛能的影響也越來(lái)越顯著。
  最后,計(jì)算了半導(dǎo)體步階阱中類(lèi)氫雜質(zhì)態(tài)的電場(chǎng)和步階

4、束縛能的競(jìng)爭(zhēng)效應(yīng)。計(jì)算結(jié)果表明在步階阱中,電子和雜質(zhì)念很大程度上依賴于電場(chǎng)強(qiáng)度和步階壘的高度。在步階阱中加上勻強(qiáng)電場(chǎng)將導(dǎo)致施主束縛能的不對(duì)稱性分布。當(dāng)所加電場(chǎng)方向與步階壘生長(zhǎng)方向相反時(shí),無(wú)論雜質(zhì)位于步階阱中任何位置,步階阱深度如何,電場(chǎng)對(duì)雜質(zhì)態(tài)施主束縛能都有著非常大的影響。然而,當(dāng)所加電場(chǎng)方向與步階壘生長(zhǎng)方向相同時(shí),無(wú)論雜質(zhì)位置和步階阱深度是怎樣的,電場(chǎng)對(duì)雜質(zhì)態(tài)施主束縛能的影響都比較小。
  總之,在有效質(zhì)量近似理論下,運(yùn)用變分法

5、分別探究了在考慮不同雜質(zhì)位置,結(jié)構(gòu)參數(shù)(阱寬L和鋁含量),激光參數(shù)α0的情況下,分別計(jì)算了在閃鋅礦GaN/AIGaN量子阱中的施主束縛能;也計(jì)算了在施加外電場(chǎng)的情況下閃鋅礦GaN/AlGaN量子阱中的施主束縛能:最后,還通過(guò)特殊的閃鋅礦InGaN/GaN步階阱為例,在理論上探討了半導(dǎo)體步階阱中的類(lèi)氫雜質(zhì)態(tài)的外加電場(chǎng)和步階壘的效應(yīng)。但需要指出的是關(guān)于類(lèi)氫雜質(zhì)態(tài)施加電場(chǎng)仍然缺少實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,本論文所取得的主要成果可能適用于其它基于半導(dǎo)體材料的閃

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