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文檔簡介
1、散斑干涉測量技術不僅能進行全場測量,更具有非接觸、精度和靈敏度高等特點,這使得該技術在生產和研究當中獲得了廣泛應用。另一方面,電子技術、計算機技術、激光技術的飛速發(fā)展,極大促進了散斑測量技術的發(fā)展,也使得這一技術正朝著實時、高速自動化方向發(fā)展。
在有關散斑測量技術的諸多實際應用中,一項非常重要的用途就是用于測量物體的變形場。近二十年來,電子散斑干涉技術(ESPI)的確業(yè)已成為變形場測量的重要方法。很多情況下,被測物理量與光學位
2、相直接相關。而電子散斑干涉術也是利用條紋分析實現(xiàn)變形場的無損測量的。若干種成熟的相位測量技術已應用于條紋分析中。迄今已有一系列有效的位相測量方法,如外差法、時間相移法、空間相移法、載波條紋圖的Fourier變換法和載波空間相移法等。
本文首先對散斑干涉技術做了簡單的介紹,然后對各種位相測量方法做了文獻綜述。最后提出了兩項新的關于變形測量的技術。具體如下:
1、基于大剪切方棱鏡的三維電子散斑干涉技術
提出了一
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