基于ATE的電源芯片的測試系統(tǒng)設(shè)計與性能分析.pdf

1、隨著近年來電子信息技術(shù)的迅猛發(fā)展，電源技術(shù)也隨之向著高速和高頻方向不斷發(fā)展。因此，電源管理(Power Manage)技術(shù)在信息產(chǎn)業(yè)技術(shù)的多個領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。而隨著頻率的不斷提高，這就給如何對其動態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)進行準確的測試帶來了前所未有的挑戰(zhàn)。眾所周知，所有的商用化芯片最終都要依賴于ATE(Automatic Test Equipment)設(shè)備進行量產(chǎn)測試。但由于各類ATE測試系統(tǒng)的性能提升明顯落后于PM產(chǎn)品性能的高速發(fā)展，

2、因此，對于更高集成度、更高精度、更低功耗的電源管理器芯片可能會面臨無法基于現(xiàn)有ATE測試平臺進行量產(chǎn)測試的問題，或面臨配置有超高性能模擬模塊的ATE裝機少、測試成本昂貴的問題。
　　本課題為節(jié)約測試成本，簡化測試流程設(shè)計，以一款A(yù)DI公司的電源管理芯片ADP2381為例，設(shè)計出一套易于操作的ATE測試系統(tǒng)和性能分析方案。該芯片可在4.5V~20V的輸入電壓下運行，可以提供6A的輸出電流。輸出電壓可以從0.6 V調(diào)至輸入電壓的90％

3、。且ADP2381的開關(guān)頻率可以在250kHz~1.4 MHz之間選擇。本文首先對ADP2381的設(shè)計與測試在國內(nèi)外的發(fā)展狀況作了簡要的介紹，接下來對與其測試相關(guān)的測試理論作了逐一的闡述，給出了ADP2381主要靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)，并對電源管理器芯片內(nèi)幾種重要的模塊進行了介紹，包括控制單元，不同種類的穩(wěn)壓源，過電壓、過電流以及過溫度保護模塊和基準模塊。其次，講述了ADP2381芯片的測試流程以及測試工具。分析了測試硬件的設(shè)計以及測試程序