DC-DC Buck芯片ATE測(cè)試中的Trim技術(shù)研究.pdf

1、DC-DC Buck芯片內(nèi)部的帶隙基準(zhǔn)電壓、參考電壓、偏置電流以及振蕩器的準(zhǔn)確性對(duì)芯片的性能有著重要的影響。但是由于半導(dǎo)體制造工藝的影響，芯片內(nèi)部模塊的電壓與電流等參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)值相比會(huì)出現(xiàn)一定的偏差，所以在ATE測(cè)試階段就需要利用trim技術(shù)對(duì)這些參數(shù)進(jìn)行修調(diào)，進(jìn)而提高芯片的良率。
　　本文在分析了DC-DC Buck芯片的基本結(jié)構(gòu)與工作原理的基礎(chǔ)之上，編寫芯片測(cè)試程序，并重點(diǎn)對(duì)trim測(cè)試進(jìn)行研究。對(duì)于帶隙基準(zhǔn)與參考電壓修調(diào)，提出

2、了一種電阻網(wǎng)絡(luò)的trim電路結(jié)構(gòu)；對(duì)于偏置電流與振蕩器修調(diào)，提出了多支路的電流鏡trim電路結(jié)構(gòu)。首先采用全搜索的算法進(jìn)行trim測(cè)試，即測(cè)試每個(gè)trim step所對(duì)應(yīng)的值，找出最接近標(biāo)準(zhǔn)值的trim code燒寫到芯片內(nèi)部的EEPROM中，但這種算法的測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)。接下來(lái)基于全搜索算法編寫了一種新穎的自動(dòng)修調(diào)算法，程序可以保存之前測(cè)試的值并自動(dòng)計(jì)算出一個(gè)trim table，對(duì)于后續(xù)芯片的測(cè)試只需要測(cè)試初始值，根據(jù)trim tabl

3、e就可以算出最佳的trim code，并且trim table可以動(dòng)態(tài)更新，保證trim code的準(zhǔn)確性。
　　選取850顆DC-DC Buck芯片進(jìn)行trim測(cè)試,并將全搜索算法與自動(dòng)修調(diào)算法的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，結(jié)果表明，采用自動(dòng)修調(diào)算法后，帶隙基準(zhǔn)、參考電壓、偏置電流與振蕩器頻率的trim測(cè)試時(shí)間分別節(jié)省了61.8％、79.2%、70.8%與65.4%，并且能夠找出準(zhǔn)確的trim code。最后對(duì)自動(dòng)修調(diào)算法trim過(guò)的芯片