DC-DC Buck芯片ATE測試中的Trim技術(shù)研究.pdf

1、DC-DC Buck芯片內(nèi)部的帶隙基準(zhǔn)電壓、參考電壓、偏置電流以及振蕩器的準(zhǔn)確性對芯片的性能有著重要的影響。但是由于半導(dǎo)體制造工藝的影響，芯片內(nèi)部模塊的電壓與電流等參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)值相比會出現(xiàn)一定的偏差，所以在ATE測試階段就需要利用trim技術(shù)對這些參數(shù)進(jìn)行修調(diào)，進(jìn)而提高芯片的良率。
　　本文在分析了DC-DC Buck芯片的基本結(jié)構(gòu)與工作原理的基礎(chǔ)之上，編寫芯片測試程序，并重點對trim測試進(jìn)行研究。對于帶隙基準(zhǔn)與參考電壓修調(diào)，提出

2、了一種電阻網(wǎng)絡(luò)的trim電路結(jié)構(gòu)；對于偏置電流與振蕩器修調(diào)，提出了多支路的電流鏡trim電路結(jié)構(gòu)。首先采用全搜索的算法進(jìn)行trim測試，即測試每個trim step所對應(yīng)的值，找出最接近標(biāo)準(zhǔn)值的trim code燒寫到芯片內(nèi)部的EEPROM中，但這種算法的測試時間較長。接下來基于全搜索算法編寫了一種新穎的自動修調(diào)算法，程序可以保存之前測試的值并自動計算出一個trim table，對于后續(xù)芯片的測試只需要測試初始值，根據(jù)trim tabl

3、e就可以算出最佳的trim code，并且trim table可以動態(tài)更新，保證trim code的準(zhǔn)確性。
　　選取850顆DC-DC Buck芯片進(jìn)行trim測試,并將全搜索算法與自動修調(diào)算法的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，結(jié)果表明，采用自動修調(diào)算法后，帶隙基準(zhǔn)、參考電壓、偏置電流與振蕩器頻率的trim測試時間分別節(jié)省了61.8％、79.2%、70.8%與65.4%，并且能夠找出準(zhǔn)確的trim code。最后對自動修調(diào)算法trim過的芯片