2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展,智能傳感、人工智能、通訊網(wǎng)絡(luò)、電子商務(wù)等領(lǐng)域的核心器件都趨于小型化和微型化,對(duì)制造工藝技術(shù)提出了更高的要求。傳統(tǒng)的光刻技術(shù)受衍射極限的制約,最高分辨力只能達(dá)到所用光源波長(zhǎng)的一半。近來(lái),表面等離子體(Surface Plasmon, SP)超分辨光刻成為突破“衍射極限”的新興技術(shù),但該技術(shù)的工作距短,且存在基片易污染片,圖形易破壞,掩膜易損壞等問(wèn)題。為解決這些問(wèn)題,研究人員提出接近式 SP光刻技術(shù),但微納尺度的間

2、隙檢測(cè)與調(diào)平是目前該領(lǐng)域的關(guān)鍵難題。針對(duì)這些問(wèn)題,本文在“超分辨光刻裝備研制”項(xiàng)目的資助下,圍繞表面等離子體超分辨光刻進(jìn)行間隙檢測(cè)與調(diào)平技術(shù)研究,主要完成了以下工作:
  首先研究對(duì)比了幾種下一代光刻技術(shù),分析了 SP超分辨光刻技術(shù)的優(yōu)勢(shì)以及開(kāi)展相關(guān)研究的重要意義;針對(duì)接近式 SP超分辨光刻研究中微納尺度的間隙檢測(cè)與調(diào)平難題,通過(guò)對(duì)比國(guó)內(nèi)外間隙檢測(cè)技術(shù)和精密調(diào)平方法,提出了針對(duì)SP超分辨光刻裝置的干涉空間位相成像(Interfer

3、ometric Spatial Phase Imaging, ISPI)間隙檢測(cè)技術(shù)和三點(diǎn)調(diào)平方法。
  其次根據(jù)ISPI間隙檢測(cè)原理和光刻調(diào)平技術(shù),設(shè)計(jì)搭建了間隙檢測(cè)與調(diào)平裝置,并應(yīng)用于SP超分辨光刻系統(tǒng)。整個(gè)SP超分辨光刻系統(tǒng)主要包括光源模塊、間隙檢測(cè)模塊、光刻鏡頭模塊、對(duì)準(zhǔn)模塊和承片臺(tái)模塊。根據(jù)三點(diǎn)調(diào)平算法,設(shè)計(jì)了相應(yīng)的主動(dòng)調(diào)平結(jié)構(gòu)。根據(jù)光刻工作流程,采用 LabVIEW圖形化編程語(yǔ)言完成超分辨光刻控制軟件系統(tǒng),提供了良好的

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