NEA光電陰極激活及性能測(cè)試技術(shù)研究.pdf_第1頁(yè)
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1、負(fù)電子親和勢(shì)(NEA)光電陰極由于其優(yōu)越的性能,在近幾十年中取得了迅猛發(fā)展,已廣泛用于第三代、第四代像增強(qiáng)器中.中國(guó)NEA光電陰極的研究距離國(guó)外先進(jìn)水平差距較大,尋其原因除了資金投入不足,相關(guān)技術(shù)落后等因素外,缺乏對(duì)每一環(huán)節(jié)有效的測(cè)試分析手段和監(jiān)測(cè)控制方法是制約中國(guó)陰極發(fā)展緩慢的一個(gè)重要原因.該文正是從這一原因入手結(jié)合國(guó)家項(xiàng)目開(kāi)展了NEA光電陰極激活及性能測(cè)試技術(shù)的研究,主要內(nèi)容如下:首先,論述了NEA光電陰極的發(fā)展現(xiàn)狀并對(duì)其描述參量做

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