基于ARM的微波暗室測(cè)試系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì).pdf

1、高性能的天線研發(fā)離不開(kāi)一套高精度的測(cè)試系統(tǒng)。微波暗室中的天線測(cè)試系統(tǒng)主要包括轉(zhuǎn)臺(tái)及伺服系統(tǒng)、測(cè)試儀器和監(jiān)控系統(tǒng)。其中轉(zhuǎn)臺(tái)及伺服系統(tǒng)等硬件部分的性能優(yōu)劣將直接影響微波暗室中天線測(cè)試的準(zhǔn)確性，因此硬件部分的設(shè)計(jì)顯得十分重要。本文設(shè)計(jì)并研究出一種基于ARM的微波暗室測(cè)試系統(tǒng)的硬件方案，主要包括伺服系統(tǒng)的底層驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)和電機(jī)控制部分設(shè)計(jì)。測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)ARM處理器控制電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)，調(diào)整被測(cè)天線的姿態(tài)的同時(shí)記錄被測(cè)天線的天線圖等測(cè)試數(shù)據(jù)。本設(shè)計(jì)硬件核心

2、基于型號(hào)為Atmel AT91SAM9263的單板機(jī)，設(shè)計(jì)出一種可以自動(dòng)完成遠(yuǎn)場(chǎng)收發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)，簡(jiǎn)化了天線測(cè)試的操作步驟。借助頻譜儀，系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確測(cè)量天線方向圖、主瓣寬度、波瓣寬度、增益等參數(shù)。本系統(tǒng)具有測(cè)量誤差小、抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)量靈敏度高等特點(diǎn)。
　　本設(shè)計(jì)的創(chuàng)新點(diǎn)是借助于嵌入式系統(tǒng)良好的擴(kuò)展性，使用高精度的軸角編碼器，以及裁剪了內(nèi)核linux2.6.24，刪除了MCI、顯示屏等驅(qū)動(dòng)，移植了網(wǎng)絡(luò)接口、AD等驅(qū)動(dòng)。通過(guò)PID算法