版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)
文檔簡介
1、金絲引線鍵合是一種通過超聲振動和鍵合力的共同作用,在低溫或無加熱情況下,將金絲引線分別鍵合到芯片焊盤和基板引腳上,以實現(xiàn)芯片與基板電路間物理互連的方法。超聲引線鍵合是當(dāng)前最重要的微電子封裝技術(shù)之一,在IC后封裝中,90%以上的封裝均采用引線鍵合互連技術(shù)。由于我國封裝技術(shù)研究起步較晚,關(guān)鍵技術(shù)掌握不足,缺乏工藝的數(shù)據(jù)積累,因此對引線鍵合工藝參數(shù)進行研究,分析影響鍵合質(zhì)量的關(guān)鍵參數(shù),發(fā)現(xiàn)歸納影響鍵合質(zhì)量的規(guī)律,都具有重要的理論意義和工程應(yīng)用
2、價值。
根據(jù)金絲引線鍵合的鍵合原理及超聲金絲球焊機的工作過程,本論文選取了超聲時間、超聲功率、燒球時間、燒球電流、鍵合壓力、鍵合溫度六個影響因素,作為對金絲引線鍵合質(zhì)量具有影響的工藝參數(shù)進行研究。根據(jù)金絲引線鍵合的工藝過程,首先進行了玻璃-硅陽極直接鍵合試驗,研究鍵合時間,接觸面積以及溫度對鍵合質(zhì)量的影響規(guī)律,選取了最佳鍵合條件,為金絲引線鍵合試驗做準(zhǔn)備。其次,由于對金絲引線鍵合質(zhì)量具有影響的工藝參數(shù)較多,選用六因素五水平的正
3、交試驗法進行研究試驗。并選取銅基底和硅基底兩組對比試驗,研究不同基底條件下,工藝參數(shù)對鍵合質(zhì)量影響是否一致。最后,根據(jù)多元線性回歸原理,依據(jù)最小二乘法原理利用MATLAB軟件對試驗數(shù)據(jù)進行線性擬合,并驗證擬合結(jié)果的合理性,運用殘差法對擬合的多元線性回歸方程進行修正,并利用所擬合方程對所選條件下鍵合率的范圍進行估計和預(yù)測。
通過對金絲引線鍵合工藝參數(shù)的研究可知,影響鍵合質(zhì)量的因素有很多,鍵合溫度對鍵合質(zhì)量的影響最為顯著,其他影響
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 引線鍵合工藝參數(shù)對封裝質(zhì)量的影響因素分析
- 引線鍵合工藝參數(shù)管理系統(tǒng)設(shè)計.pdf
- 面向引線鍵合工藝的質(zhì)量影響因素與規(guī)律的分析.pdf
- 引線鍵合工藝參數(shù)的有限元建模與影響規(guī)律研究.pdf
- 引線鍵合的失效機理
- 超細間距引線鍵合第一鍵合點影響因素研究.pdf
- 超細間距引線鍵合工藝的試驗研究.pdf
- 基于PMAC引線鍵合軌跡規(guī)劃研究.pdf
- 芯片封裝引線鍵合的質(zhì)量體系研究.pdf
- 引線鍵合高頻超聲換能器的設(shè)計和鍵合頭運動控制研究.pdf
- 金絲鍵合質(zhì)量信息研究.pdf
- IC引線鍵合頭運動軌跡規(guī)劃.pdf
- 引線鍵合機控制系統(tǒng)設(shè)計.pdf
- 引線鍵合超聲換能系統(tǒng)設(shè)計研究.pdf
- IC封裝銅引線鍵合的成球工藝對材料特性的影響.pdf
- 引線鍵合頭的設(shè)計及其力控制.pdf
- 引線鍵合的低成本分析.doc
- 引線鍵合的低成本分析.doc
- 引線鍵合的低成本分析 (2).doc
- 全自動金絲球引線鍵合機關(guān)鍵部件結(jié)構(gòu)設(shè)計.pdf
評論
0/150
提交評論