光纖捷聯(lián)系統(tǒng)硬件平臺(tái)可靠性測(cè)試方法研究.pdf

1、捷聯(lián)慣性導(dǎo)航技術(shù)不論在軍事領(lǐng)域還是在民用方面都有著廣泛的應(yīng)用市場，由于光纖陀螺精度的不斷提高，而在捷聯(lián)慣導(dǎo)系統(tǒng)中得到廣泛應(yīng)用，光纖陀螺捷聯(lián)慣性導(dǎo)航技術(shù)是近年來國內(nèi)外的研究熱點(diǎn)。我國光纖捷聯(lián)系統(tǒng)制造水平與國外先進(jìn)水平相比還有很大差距，主要反映為可靠性差、精度低。光纖陀螺捷聯(lián)慣導(dǎo)系統(tǒng)要具備溫度、磁場、機(jī)械振動(dòng)等可靠性方面的特性。課題圍繞光纖捷聯(lián)系統(tǒng)硬件平臺(tái)可靠性測(cè)試做了以下幾方面的研究工作，為今后系統(tǒng)工程化應(yīng)用和批量化生產(chǎn)奠定了基礎(chǔ)。

2、 論文分析了光纖陀螺的工作原理，詳細(xì)論述了光纖陀螺捷聯(lián)慣導(dǎo)系統(tǒng)的數(shù)學(xué)模型和工作原理。光纖捷聯(lián)系統(tǒng)信息處理板的硬件以DSP和FPGA為核心完成溫度模塊、陀螺模塊、加速度計(jì)模塊數(shù)據(jù)的采集、存儲(chǔ)和發(fā)送，并對(duì)存儲(chǔ)器理論進(jìn)行了研究，給出了對(duì)各部分存儲(chǔ)器的具體測(cè)試方法，設(shè)計(jì)了中斷程序，初始化程序，內(nèi)部RAM、外部FLASH和AT24C02的測(cè)試程序。 分析了光纖捷聯(lián)系統(tǒng)硬件平臺(tái)可靠性相關(guān)的主要指標(biāo)和可靠性信息收集方法、可靠性模型和故障間隔

3、時(shí)間概率分布。根據(jù)國產(chǎn)某系列光纖捷聯(lián)系統(tǒng)的故障數(shù)據(jù)，確定該系列光纖捷聯(lián)系統(tǒng)的故障間隔時(shí)間服從威布爾分布，并計(jì)算得到了該系列光纖捷聯(lián)系統(tǒng)的可靠性指標(biāo)：平均故障間隔時(shí)間、平均維修時(shí)間和固有可用度的數(shù)值。 對(duì)光纖捷聯(lián)系統(tǒng)硬件平臺(tái)可靠性測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了總體設(shè)計(jì)。為使測(cè)試系統(tǒng)能夠發(fā)送規(guī)律、有效的信號(hào)，以FPGA為中心利用VHDL語言設(shè)計(jì)了基于DDS原理的信號(hào)發(fā)生器，并用MODELSIM軟件對(duì)信號(hào)發(fā)生器中的主要功能模塊進(jìn)行了仿真。為了能對(duì)各種