過程控制課設(shè)論文---副本

1、1過程控制綜合設(shè)計(jì)報(bào)告學(xué)院：機(jī)電工程學(xué)院專業(yè)：電氣工程及其自動(dòng)化組員：1300120104羅金趣1300120106鄧建翔1300120132楊志豪指導(dǎo)老師：張彤3第一篇第一篇PID控制器仿真設(shè)計(jì)報(bào)告控制器仿真設(shè)計(jì)報(bào)告2.1仿真設(shè)計(jì)題及要求仿真設(shè)計(jì)題及要求有一被控對象傳函為：)2()1()(212????ssesGs現(xiàn)擬用一數(shù)字調(diào)節(jié)器對其實(shí)施控制，設(shè)采樣周期為T=1s要求：(1)求出該對象帶零階保持器后離散化的Z傳函。(2)使用最少拍法

2、設(shè)計(jì)一個(gè)調(diào)節(jié)器。(3)在Simulink中對上述調(diào)節(jié)器的運(yùn)行情況進(jìn)行仿真。延延延(10s)ZOHStepScopeG(s)1(s1)(s1)(s1)D(z)zeros(z)poles(z)提示：MATLAB中c2d函數(shù)可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)傳函離散化。2.2、仿真測試及參數(shù)整定、仿真測試及參數(shù)整定積分分離控制基本思路是：當(dāng)被控量與設(shè)定值偏差較大時(shí)，取消積分作用，以免由于積分作用使系統(tǒng)穩(wěn)定性降低，超調(diào)量增大；當(dāng)被控量接近給定值時(shí)，引入積分控制，以便