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1、1第一部分第一部分考試試題考試試題第0章緒論緒論1.1.什么叫半導(dǎo)體集成電路?什么叫半導(dǎo)體集成電路?2.2.按照半導(dǎo)體集成電路的集成度來分,分為哪些類型,請(qǐng)同時(shí)寫出按照半導(dǎo)體集成電路的集成度來分,分為哪些類型,請(qǐng)同時(shí)寫出它們對(duì)應(yīng)的英文縮寫?它們對(duì)應(yīng)的英文縮寫?3.3.按照器件類型分,半導(dǎo)體集成電路分為哪幾類?按照器件類型分,半導(dǎo)體集成電路分為哪幾類?4.4.按電路功能或信號(hào)類型分,半導(dǎo)體集成電路分為哪幾類按電路功能或信號(hào)類型分,半導(dǎo)體集
2、成電路分為哪幾類?5.5.什么是特征尺寸?它對(duì)集成電路工藝有何影響什么是特征尺寸?它對(duì)集成電路工藝有何影響?6.6.名詞解釋:集成度、名詞解釋:集成度、waferwafersizesize、diediesizesize、摩爾定律?、摩爾定律?第1章集成電路的基本制造工藝集成電路的基本制造工藝1.四層三結(jié)的結(jié)構(gòu)的雙極型晶體管中隱埋層的作用?2.在制作晶體管的時(shí)候,襯底材料電阻率的選取對(duì)器件有何影響?。3.簡(jiǎn)單敘述一下pn結(jié)隔離的NPN晶體
3、管的光刻步驟?4.4.簡(jiǎn)述硅柵簡(jiǎn)述硅柵p阱CMOSCMOS的光刻步驟?的光刻步驟?5.5.以p阱CMOSCMOS工藝為基礎(chǔ)的工藝為基礎(chǔ)的BiCMOSBiCMOS的有哪些不足?的有哪些不足?6.6.以N阱CMOSCMOS工藝為基礎(chǔ)的工藝為基礎(chǔ)的BiCMOSBiCMOS的有哪些優(yōu)缺點(diǎn)?并請(qǐng)?zhí)岢龈牡挠心男﹥?yōu)缺點(diǎn)?并請(qǐng)?zhí)岢龈倪M(jìn)方法。進(jìn)方法。7.請(qǐng)畫出NPN晶體管的版圖,并且標(biāo)注各層摻雜區(qū)域類型。8.8.請(qǐng)畫出請(qǐng)畫出CMOSCMOS反相器的版圖,
4、并標(biāo)注各層摻雜類型和輸入輸出端反相器的版圖,并標(biāo)注各層摻雜類型和輸入輸出端子。子。第2章集成電路中的晶體管及其寄生效應(yīng)集成電路中的晶體管及其寄生效應(yīng)34.兩管與非門有哪些缺點(diǎn),四管及五管與非門的結(jié)構(gòu)相對(duì)于兩管與非門在那些地方做了改善,并分析改善部分是如何工作的。四管和五管與非門對(duì)靜態(tài)和動(dòng)態(tài)有那些方面的改進(jìn)。5.相對(duì)于五管與非門六管與非門的結(jié)構(gòu)在那些部分作了改善,分析改進(jìn)部分是如何工作的。6.畫出四管和六管單元與非門傳輸特性曲線。并說明為
5、什么有源泄放回路改善了傳輸特性的矩形性。7.四管與非門中,如果高電平過低,低電平過高,分析其原因,如與改善方法,請(qǐng)說出你的想法。8.為什么TTL與非門不能直接并聯(lián)?9.OC門在結(jié)構(gòu)上作了什么改進(jìn),它為什么不會(huì)出現(xiàn)TTL與非門并聯(lián)的問題。第5章MOSMOS反相器反相器1.1.請(qǐng)給出請(qǐng)給出NMOSNMOS晶體管的閾值電壓公式,并解釋各項(xiàng)的物理含義及晶體管的閾值電壓公式,并解釋各項(xiàng)的物理含義及其對(duì)閾值大小的影響(即各項(xiàng)在不同情況下是提高閾值還
6、是降低其對(duì)閾值大小的影響(即各項(xiàng)在不同情況下是提高閾值還是降低閾值)閾值)。2.什么是器件的亞閾值特性,對(duì)器件有什么影響?3.3.MOSMOS晶體管的短溝道效應(yīng)是指什么,其對(duì)晶體管有什么影響?晶體管的短溝道效應(yīng)是指什么,其對(duì)晶體管有什么影響?4.請(qǐng)以PMOS晶體管為例解釋什么是襯偏效應(yīng),并解釋其對(duì)PMOS晶體管閾值電壓和漏源電流的影響。5.什么是溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng),對(duì)器件有什么影響?6.為什么MOS晶體管會(huì)存在飽和區(qū)和非飽和區(qū)之分(不考慮
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